[发明专利]用于光谱分析和增益调整的系统和方法有效
申请号: | 201780073096.6 | 申请日: | 2017-09-28 |
公开(公告)号: | CN110012673B | 公开(公告)日: | 2023-07-14 |
发明(设计)人: | 弗洛里贝特斯·PM·休肯斯费尔特詹森;马克·大卫·弗里斯;曹拓宇 | 申请(专利权)人: | 通用电气公司 |
主分类号: | G06T11/00 | 分类号: | G06T11/00;G01T1/17;G01T1/40;G06F18/15;G06F18/30 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 侯颖媖;钱慰民 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明公开了一种辐射检测系统,该辐射检测系统包括检测器单元和至少一个处理器。检测器单元被配置为响应于辐射而生成信号。至少一个处理器可操作地耦接到检测器单元并且被配置为从检测器单元接收信号。至少一个处理器被配置为:在成像过程期间,获取对应于第一固有能量窗口的至少一个所述信号的第一计数,该第一能量窗口对应于比固有峰值高的值;获取对应于第二固有能量窗口的至少一个所述信号的第二计数,该第二能量窗口对应于比固有峰值低的值;以及基于至少第一计数和第二计数来调整应用于信号的增益。 | ||
搜索关键词: | 用于 光谱分析 增益 调整 系统 方法 | ||
【主权项】:
1.一种辐射检测系统,包括:检测器单元,所述检测器单元被配置为响应于辐射而生成信号;和至少一个处理器,所述至少一个处理器可操作地耦接到所述检测器单元并且被配置为从所述检测器单元接收所述信号,所述至少一个处理器被配置为:在成像过程期间,获取对应于第一固有能量窗口的至少一个所述信号的至少第一计数,所述第一能量窗口对应于比固有峰值高的值;在所述成像过程期间,获取对应于第二固有能量窗口的至少一个所述信号的至少第二计数,所述第二能量窗口对应于比所述固有峰值低的值;以及基于至少所述第一计数和所述第二计数来调整应用于所述信号的增益。
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