[发明专利]用于准确地量化目标样本的组成的系统和方法

摘要

一种用于基于第一类型的传感器(104)的扫描输出来量化目标样本的组成的系统(106)包括参考数据库(202)、自定义数据库(204)和模块集。所述模块集包括：分析模型创建模块(206)，其创建所述第一类型的传感器的分析模型；样本处理模块(208)，其在标准压力条件下使用所述第一类型的传感器处理包括准确已知的组成的样本；分子分数估计模块(210)，其使用估计方法和所述分析模型估计所述样本的分子分数；分析模型优化模块(212)，其通过将所述样本的所述分子分数与所述样本的预定分子分数相比较优化所述分析模型；以及目标组成估计模块(214)，其使用利用了所述优化的分析模型的所述估计方法基于所述扫描输出来估计所述目标样本的组成。

主权项

1.一种用于基于第一类型的传感器针对目标样本的扫描输出来量化所述目标样本的组成的系统，所述扫描输出包括与所述目标样本相对应的检测到的离子的作为质荷比的函数的光谱，所述系统包括：参考数据库，其用于存储与所述目标样本的标准碎片化和电离电位有关的标准参考数据；自定义数据库，其用于存储使用所述第一类型的传感器所确定的所述目标样本的碎片化信息和电离电位；以及模块集，其中，所述模块集包括：分析模型创建模块，其被配置为使用所述第一类型的传感器的校准数据和所述标准参考数据来创建所述第一类型的传感器的分析模型，所述分析模型是所述第一类型的传感器的数学模型并且所述校准数据包括与针对所述标准参考数据所校准的所述分析模型有关的数据；样本处理模块，其被配置为在标准压力条件下使用所述第一类型的传感器来处理包括准确已知的组成的多个样本；分子分数估计模块，其被配置为使用估计方法和所述第一类型的传感器的分析模型来估计所述多个样本的分子分数；分析模型优化模块，其被配置为通过将所述多个样本的分子分数与所述多个样本的预定分子分数相比较来优化所述第一类型的传感器的分析模型；以及目标组成估计模块，其被配置为使用利用了所述第一类型的传感器的经优化的分析模型的所述估计方法，基于从所述第一类型的传感器所获得的所述目标样本的扫描输出来估计所述目标样本的组成。