[发明专利]用于测量光谱的装置有效
| 申请号： | 201780055314.3 | 申请日： | 2017-07-11 |
| 公开（公告）号： | CN109863377B | 公开（公告）日： | 2021-09-10 |
| 发明（设计）人： | S·根斯默;T·马尔萨斯 | 申请（专利权）人： | 联邦科学工业研究组织 |
| 主分类号： | G01J3/18 | 分类号： | G01J3/18;G01J3/28;G01J3/02;G01N21/25;G01N21/31 |
| 代理公司： | 北京戈程知识产权代理有限公司 11314 | 代理人： | 程伟;王锦阳 |
| 地址： | 澳大利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 用于测量来自一个或多个样本的光谱的装置，该装置包括：参考波导、至少一个样本波导、光学系统以及成像装置，所述参考波导接收用于照射至少一个样本的光照辐射；所述样本波导接收从相应样本反射的样本辐射和透射过相应样本的样本辐射中的至少一个；所述光学系统基于辐射的频率对来自每个波导的辐射进行空间分布，并将来自光纤的辐射聚焦到像平面上；所述成像装置采集来自像平面的聚焦且空间分布的辐射的图像，使得图像包括来自每个波导的相应光谱。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测量 光谱 装置 | ||
【主权项】：
1.一种用于测量来自一个或多个样本的光谱的装置，所述装置包括：a)参考波导，其接收用于照射至少一个样本的光照辐射；b)至少一个样本波导，其接收从相应样本反射的样本辐射和透射过相应样本的样本辐射中的至少一个；c)光学系统，所述光学系统：i)基于辐射的频率对来自每个波导的辐射进行空间分布；并且ii)将来自光纤的辐射聚焦到像平面上；以及d)成像装置，其采集来自像平面的聚焦的且空间分布的辐射的图像，使得所述图像包括来自每个波导的相应光谱。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于联邦科学工业研究组织，未经联邦科学工业研究组织许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201780055314.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：用于作业机械的振动监测方法和系统
- 下一篇：贴靠式温度测量感测器
