[发明专利]制造光学面板的方法以及设备有效
| 申请号： | 201780052924.8 | 申请日： | 2017-05-17 |
| 公开（公告）号： | CN109641441B | 公开（公告）日： | 2021-06-08 |
| 发明（设计）人： | 具宰晧;权淳五;任唯清;许材承 | 申请（专利权）人： | 三星SDI株式会社 |
| 主分类号： | B32B41/00 | 分类号： | B32B41/00;G02F1/1335;G02F1/13;B32B43/00 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 马爽;臧建明 |
| 地址： | 韩国京畿道龙仁*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明公开一种制造光学面板的设备，以及制造光学面板的方法。设备包含：薄膜分离器，其将光学薄膜自脱模薄膜与光学薄膜的堆叠结构分离；薄膜测量单元，其测量由薄膜分离器分离的光学薄膜的前端的第一位置值及第二位置值，第一位置值表示光学薄膜的前端相对于第一方向的位置，第二位置值表示光学薄膜的前端相对于不同于第一方向的第二方向的位置；以及控制器，其基于通过薄膜测量单元测量的光学薄膜的前端的位置值调节待黏结至光学薄膜的面板的位置。在本发明的制造光学面板的方法以及设备中，测量光学薄膜的卷曲以调节面板的黏结位置，进而实现光学薄膜至面板的准确黏结。 | ||
| 搜索关键词： | 制造 光学 面板 方法 以及 设备 | ||
【主权项】：
1.一种制造光学面板的设备，包括：薄膜分离器，其将光学薄膜自脱模薄膜与所述光学薄膜的堆叠结构分离；薄膜测量单元，其测量由所述薄膜分离器分离的所述光学薄膜的前端的第一位置值以及第二位置值，所述第一位置值表示所述光学薄膜的所述前端相对于第一方向的位置，所述第二位置值表示所述光学薄膜的所述前端相对于不同于所述第一方向的第二方向的位置；以及控制器，其基于通过所述薄膜测量单元测量的所述光学薄膜的所述前端的所述位置值调节待黏结至所述光学薄膜的所述面板的位置。
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