[发明专利]中子射线照相方法以及用于实现其的装置

摘要

本发明涉及中子射线照相并且可以用于细长放射性物品、主要是核燃料元件的检查，并且还可用于被照射对象和未被照射对象的无损测试以便确定其内部结构和材料组成。本方法在于：将所检查对象放置到保护容器(3)中；通过安装座(5)将容器放置在机座(4)上并且使对象牢固地紧固在其中；将第一探测器(11)安装在分度盘(7)中的凹槽(8)中；设置辐射方向与探测器之间的角度(+α)；供应中子束(1)；将第二探测器(12)安装在凹槽中；设置辐射方向与探测器之间的角度(‑α)；执行照射；以及处理曝光胶片以获得在角度±α处的图像。一种用于实现用于测试物品的方法的装置，其包括中子源、保护容器(3)和探测系统，其另外包括机座(4)，机座(4)上布置有呈可旋转分度盘(7)形式的探测系统，该探测系统带有用于紧固中子探测器(11、12)的呈沿直径的凹槽(8)形式的安装座(5)，分度盘被安装成使得可围绕平行于所检查对象的轴线的轴线旋转所设置角度，并且在其中具有当分度盘相对于中子束(1)的方向旋转角度±αi时用于细长对象的通过的半圆形凹口(13)。

主权项

1.一种中子射线照相的方法，其在于：将所检查对象放置到保护容器中，通过安装座将所述容器放置在机座上并且牢固地紧固在机座中，将第一探测器安装在被整合到所述机座中并且以带有半圆形凹口的可旋转盘的形式制成的分度盘中的凹槽中，设置辐射方向与所述探测器之间的角度(+α)，供应中子束，在照射之后将所述第一探测器从盒移动到专用容器以使所述第一探测器与照相胶片接触，将第二探测器安装在所述凹槽中，设置所述辐射方向与所述第二探测器之间的角度(‑α)，执行照射，在照射之后将所述第二探测器从所述盒移动到所述专用容器以便与照相胶片接触，处理曝光胶片以获得在角度±α(|+α|=|‑α|)处的图像，改变所述角度能产生立体图像。