[发明专利]辐射信号处理系统在审
| 申请号： | 201780027640.3 | 申请日： | 2017-05-02 |
| 公开（公告）号： | CN109073572A | 公开（公告）日： | 2018-12-21 |
| 发明（设计）人： | 爱德华·詹姆斯·莫顿 | 申请（专利权）人： | 拉皮斯坎系统股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/04 | 分类号： | G01N23/04;G01N23/087;G01N23/203 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 梁丽超;刘瑞贤 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 一种基于双能量的X射线扫描系统具有带有高能和低能检测器的线性检测器阵列。采用了一种信号处理方法，该方法考虑了透射的X射线入射在检测器的不同角度以及透射的X射线穿过高能和低能检测器的不同顺序。这在生成的图像中产生高分辨率和更好的穿透性能。 | ||
| 搜索关键词： | 低能检测器 透射 线性检测器阵列 检测器 信号处理系统 高分辨率 信号处理 双能量 入射 穿透 穿过 图像 辐射 | ||
【主权项】：
1.一种信号处理方法，所述信号处理方法用于基于双能量的X射线扫描系统，所述基于双能量的X射线扫描系统包括：X射线源，被配置为生成高能X射线和低能X射线；以及线性检测器阵列，至少具有被配置为检测所述高能X射线并产生高能像素数据的高能X射线检测器和被配置为检测所述低能X射线并产生低能像素数据的低能X射线检测器，所述方法包括：使用所述线性检测器阵列，生成所述高能像素数据和所述低能像素数据；使用与所述线性检测器阵列进行数据通信的处理器，在形状上采样所述高能像素数据和所述低能像素数据，从而分别将采样的高能像素数据和采样的低能像素数据创建成点轨迹的形式；使用所述处理器，基于采样的高能像素数据和采样的低能像素数据计算多个等效检测器厚度；使用所述处理器，基于所述多个等效检测器厚度确定有效Z的值；使用所述处理器，确定所述采样的高能像素数据和所述采样的低能像素数据的强度的值；使用所述处理器，基于所述有效Z和所述强度生成图像；并且在显示器上显示所述图像。
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