[发明专利]用于测量介质中颗粒的特性的方法和用于测量烟道气中颗粒的特性的装置在审
| 申请号： | 201780020985.6 | 申请日： | 2017-03-30 |
| 公开（公告）号： | CN109073524A | 公开（公告）日： | 2018-12-21 |
| 发明（设计）人： | M.普洛克 | 申请（专利权）人： | 辛创有限公司 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 李湘;闫小龙 |
| 地址： | 芬兰赫*** | 国省代码： | 芬兰;FI |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于通过测量被引导穿过介质的光线的散射来确定介质中颗粒特性的方法。光线（2）可以不止一次地被引导穿过散射区（4）。使用相同的传感器（6）测量散射的（5）和未散射的光两者。本发明还涉及一种用于测量诸如烟道气之类的介质中的颗粒的特性的测量装置。 | ||
| 搜索关键词： | 中颗粒 散射 测量 穿过 测量介质 测量烟道 测量装置 散射区 烟道气 传感器 地被 | ||
【主权项】：
1.用于基于在散射区（4）中穿过介质行进的光线（2）的散射来测量所述介质中包含的颗粒的特性的方法，其特征在于：‑不止一次引导所述光线（2）穿过所述散射区（4），由此一部分光被散射，‑使用相同的传感器（6）测量散射光（5）和未散射光两者。
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