[发明专利]具有单轴扫描的渡越时间探测器有效

专利信息
申请号: 201780020792.0 申请日: 2017-03-07
公开(公告)号: CN108885260B 公开(公告)日: 2022-06-03
发明(设计)人: A·斯庞特;Y·格尔森 申请(专利权)人: 苹果公司
主分类号: G01S17/42 分类号: G01S17/42;G01S17/89;G01S7/481
代理公司: 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 代理人: 宿小猛
地址: 美国加*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明提供了一种用于标测的装置,该装置包括照明组件(123),该照明组件跨场景投射沿第一方向延伸的辐射线(122)。检测组件(145)接收从包含辐射线的至少部分的感测区域(148)内的场景所反射的辐射,并且包括探测器元件(56)和物镜光学元件(52,146)的线性阵列(54,136),所述线性阵列将来自感测区域的所反射的辐射聚焦到线性阵列。扫描镜(46,138)沿第二方向在场景上方一起扫描辐射线和感测区域,所述第二方向垂直于第一方向。处理电路(64,66)处理由探测器元件输出的信号响应于所接收的辐射,以便在场景中构建对象的三维(3D)地图。
搜索关键词: 具有 扫描 时间 探测器
【主权项】:
1.一种用于标测的装置,包括:照明组件,所述照明组件被配置为跨场景投射沿第一方向延伸的辐射线;检测组件,所述检测组件被配置为接收在包含所述辐射线的至少部分的感测区域内从所述场景反射的所述辐射,并且所述检测组件包括探测器元件和物镜光学元件的线性阵列,所述线性阵列将来自所述感测区域的反射辐射聚焦到所述线性阵列;扫描镜,所述扫描镜被配置为沿第二方向在所述场景上方一起扫描所述辐射线和所述感测区域,所述第二方向垂直于所述第一方向;和处理电路,所述处理电路被配置为处理由所述探测器元件响应于所接收的辐射而输出的信号,以便构建所述场景中对象的三维(3D)地图。
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