[发明专利]用于在吸收制品转换加工生产线上检测基底中的孔的方法和设备在审
| 申请号： | 201780008122.7 | 申请日： | 2017-02-01 |
| 公开（公告）号： | CN108603846A | 公开（公告）日： | 2018-09-28 |
| 发明（设计）人： | S.M.巴尔加 | 申请（专利权）人： | 宝洁公司 |
| 主分类号： | G01N21/89 | 分类号： | G01N21/89;G01N21/894;G01N21/88 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 葛青;宋莉 |
| 地址： | 美国俄亥俄*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本文的方法将偏振光用于检测基底中的通孔。光源引导光穿过具有第一偏振轴线的第一偏振滤光器，其中偏振光从第一偏振滤光器行进并且朝基底行进。偏振光的取向在行进穿过基底材料时被改变，并且被散射。然而，行进穿过基底中的孔的偏振光保持未被散射。第二偏振滤光器接收远离基底行进的未散射光和散射光。第二偏振滤光器包括成角度地偏离且不平行于第一偏振轴线的第二偏振轴线。因此，第二偏振滤光器阻挡未散射光的前进，而散射光不被第二偏振滤光器阻挡。基于被从第二偏振滤光器行进的光围绕的未散射光的缺乏来检测孔。 | ||
| 搜索关键词： | 偏振滤光器 偏振光 散射光 基底 行进 偏振轴线 穿过 散射 阻挡 方法和设备 加工生产线 光源引导 基底材料 吸收制品 不平行 检测孔 检测 取向 通孔 偏离 转换 | ||
【主权项】：
1.一种用于检测基底的方法，所述方法包括以下步骤：沿纵向推进基底(200)，所述基底(200)具有第一表面(202)和相对的第二表面(204)，并且限定沿横向的宽度；通过使出自光源(302)的光(400)穿过第一偏振滤光器(304)将光偏振化，其中所述第一偏振滤光器(304)包括第一偏振轴线(310)；从所述第一偏振滤光器(304)朝所述基底(200)的第一表面(202)引导偏振光(402)，其中从所述第一表面(202)行进穿过基底材料至所述第二表面(204)的偏振光(404)被散射，并且其中行进穿过完全延伸穿过所述基底(200)的孔(210)的偏振光(402)未被散射；提供传感器(308)以检测从所述基底(200)行进的光；用第二偏振滤光器(306)阻挡未散射光(402)从所述基底(200)中的孔(210)行进至所述传感器(308)，其中所述第二偏振滤光器(306)包括成角度地偏离所述第一偏振轴线(310)的第二偏振轴线(312)；以及用所述传感器(308)检测穿过所述第二偏振滤光器(306)的光(406)。
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