[发明专利]软钎焊接合部在审

专利信息
申请号: 201780004199.7 申请日: 2017-05-10
公开(公告)号: CN108290250A 公开(公告)日: 2018-07-17
发明(设计)人: 渡边裕彦;斋藤俊介;小平悦宏 申请(专利权)人: 富士电机株式会社
主分类号: B23K35/26 分类号: B23K35/26;C22C13/02;H01L21/52;H05K3/34
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇;李茂家
地址: 日本神*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 抑制异种材料的界面处的破坏。软钎焊接合部、以及具备该接合部的电子设备及半导体装置,所述软钎焊接合部包含:使软钎焊材料熔融而成的软钎焊接合层(10)、以及至少一方为Cu或Cu合金构件(123)的被接合体(11)、(123),所述软钎焊材料含有超过5.0质量%且为10.0质量%以下的Sb、2.0~4.0质量%的Ag、超过0且为1.0质量%以下的Ni,余量由Sn和不可避免的杂质组成,前述软钎焊接合层在与前述Cu或Cu合金构件(123)的界面具备包含(Cu,Ni)6(Sn,Sb)5的第一组织(1)和包含(Ni,Cu)3(Sn,Sb)X的第二组织(式中,X为1、2、或4)(2)。
搜索关键词: 软钎焊接合部 软钎焊材料 接合层 软钎焊 半导体装置 被接合体 电子设备 异种材料 接合部 界面处 熔融 式中
【主权项】:
1.一种软钎焊接合部,其包含:使软钎焊材料熔融而成的软钎焊接合层、以及至少一方为Cu或Cu合金构件的被接合体,所述软钎焊材料含有超过5.0质量%且为10.0质量%以下的Sb、2.0~4.0质量%的Ag、超过0且为1.0质量%以下的Ni,余量由Sn和不可避免的杂质组成,所述软钎焊接合层在与所述Cu或Cu合金构件的界面具备包含(Cu,Ni)6(Sn,Sb)5的第一组织和包含(Ni,Cu)3(Sn,Sb)X的第二组织,式中,X为1、2、或4。
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