[发明专利]物质波治疗方法和非侵入式检查设备有效
| 申请号： | 201780001709.5 | 申请日： | 2017-03-31 |
| 公开（公告）号： | CN107709922B | 公开（公告）日： | 2022-03-04 |
| 发明（设计）人： | 甘万达;甘芳齐 | 申请（专利权）人： | 甘万达;甘芳齐 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 吕俊刚 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 一种非接触角测量设备包括物质波和能量(MWE)粒子源和检测器。MWE粒子源用于生成玻色子或费米子粒子。检测器用于检测由1)与第一平面的缝、凸块或孔对应的玻色子或费米子粒子和2)与被第二平面反射的玻色子或费米子粒子相关联的物质波的波前分割生成的干涉图案的多个峰或谷，其中，所述干涉图案的所述多个峰或谷的角位置、所述第一平面与所述第二平面的接合区域之间的第一距离、以及所述检测器和所述缝、凸块或孔之间的第二距离用于决定所述第一平面和所述第二平面之间的角度。 | ||
| 搜索关键词： | 物质 治疗 方法 侵入 检查 设备 | ||
【主权项】：
一种非接触角测量设备，该非接触角测量设备包括：物质波和能量(MWE)粒子源，其用于生成玻色子或费米子粒子；以及检测器，其用于检测由与第一平面的缝、凸块或孔对应的玻色子或费米子粒子和与被第二平面反射的玻色子或费米子粒子相关联的物质波生成的干涉图案的多个峰或谷，其中，所述干涉图案的所述多个峰或谷的角位置、所述第一平面与所述第二平面的接合区域之间的第一距离、以及所述检测器和所述缝之间的第二距离用于决定所述第一平面与所述第二平面之间的角度。
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