[实用新型]一种基于分形理论的有机外绝缘表面形貌分析装置有效

专利信息
申请号: 201721892314.2 申请日: 2017-12-29
公开(公告)号: CN207623366U 公开(公告)日: 2018-07-17
发明(设计)人: 高岩峰;卢毅;陈原;李炜;丁斌;李鑫;张旭;范硕超;王馨;王珣;龚延兴;王辉;张吉飞;龚志峰;王勇;康铁锋;杨静;王书渊;贾立宁 申请(专利权)人: 国网冀北电力有限公司张家口供电公司;华北电力科学研究院有限责任公司;国网冀北电力有限公司电力科学研究院;国家电网公司
主分类号: G01Q30/04 分类号: G01Q30/04;G01Q60/24;G06T7/10
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 贾磊;刘淼
地址: 075000 *** 国省代码: 河北;13
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摘要: 实用新型提供了一种基于分形理论的有机外绝缘表面形貌分析装置,涉及电力系统技术领域。获得测量平面内有机外绝缘表面扫描数据,并设置投影平面;根据迭代参数确定分形结构判断立方体;覆盖到投影平面,并确定投影面积是否大于测量平面在投影平面的投影面积;若小于等于,则进行投影平面分割,确定当前迭代参数对应的覆盖立方体数量,并更新迭代参数,并返回更新分形结构判断立方体;若大于,则根据各迭代参数对应的覆盖立方体数量和分形结构判断立方体的边长,确定一线性回归关系,得到斜率的绝对值,确定分形上限尺度;根据该分形上限尺度,确定有机外绝缘表面的分形维度。本实用新型能够实现对有机外绝缘表面形貌的分形特征的准确分析。
搜索关键词: 外绝缘 迭代参数 投影平面 分形结构 表面形貌分析 本实用新型 分形理论 分形 投影 覆盖 测量 尺度 表面扫描数据 电力系统技术 表面形貌 分形特征 分形维度 边长 更新 返回 分割 回归 分析
【主权项】:
1.一种基于分形理论的有机外绝缘表面形貌分析装置,其特征在于,包括:有机外绝缘表面扫描数据获取单元,用于将待分析有机外绝缘表面样品通过原子力显微镜进行扫描测量,获得一测量平面内的有机外绝缘表面扫描数据,并确定进行扫描测量时的分辨率;投影平面设置单元,用于设置一与所述测量平面的尺寸相同的投影平面;迭代参数及立方体处理单元,用于设置初始迭代参数和初始分形结构判断立方体,或者根据更新后的迭代参数,对分形结构判断立方体进行更新;所述初始分形结构判断立方体的体积为所述分辨率的立方;所述初始分形结构判断立方体能够覆盖在所述投影平面上,其覆盖所述投影平面的面积为所述分辨率的平方;分形结构判断立方体覆盖单元,用于通过分形结构判断立方体覆盖到所述投影平面,并确定分形结构判断立方体在所述投影平面的投影面积是否大于所述测量平面在所述投影平面的投影面积;若大于,则执行线性回归关系确定单元的步骤;若小于等于,则执行投影平面分割单元的步骤;投影平面分割单元,用于将所述投影平面根据分形结构判断立方体在所述投影平面的投影面积进行分割,形成各分割平面;所述分割平面的尺寸为分形结构判断立方体在所述投影平面的投影面积;覆盖立方体数量生成单元,用于在每个分割平面对应的测量平面上确定一子测量平面,确定覆盖所述子测量平面所需的立方体数量;并将各分割平面对应的各子测量平面所需的立方体数量叠加求和,生成当前迭代参数对应的覆盖立方体数量;迭代参数更新单元,用于将当前迭代参数加1,以生成更新后的迭代参数;在迭代参数更新单元的步骤处理完成之后返回执行迭代参数及立方体处理单元的步骤;线性回归关系确定单元,用于根据各迭代参数对应的覆盖立方体数量和分形结构判断立方体的边长,确定一线性回归关系;分形上限尺度确定单元,用于根据所述线性回归关系的斜率的绝对值,确定有机外绝缘表面的分形上限尺度;分形维度确定单元,用于根据所述有机外绝缘表面的分形上限尺度,确定有机外绝缘表面的分形维度。
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