[实用新型]T/R组件测试系统校准装置有效

专利信息
申请号: 201721668096.4 申请日: 2017-12-05
公开(公告)号: CN207730927U 公开(公告)日: 2018-08-14
发明(设计)人: 邓倩岚;陈炜;辛康;汪桃林;戴利剑 申请(专利权)人: 上海精密计量测试研究所;上海航天信息研究所
主分类号: G01S7/40 分类号: G01S7/40
代理公司: 上海航天局专利中心 31107 代理人: 余岢
地址: 201109 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 实用新型提供了一种T/R组件测试系统校准装置,本实用新型通过对T/R组件测试系统的系统组成和工作原理以及对T/R组件参数测试方法的研究,选择合适的仪器设备建立连续波功率、峰值功率和脉冲S参数包括相位、幅度、端口驻波的五项校准标准,校准装置包括标准衰减器、标准失配器、标准移相器、频谱分析仪、功率计,可以确保T/R组件测试系统正常运行及性能指标的准确性,解决T/R组件测试系统的量值溯源问题,保障T/R组件测试系统的性能、质量及可靠性。
搜索关键词: 测试系统 测试系统校准 本实用新型 连续波功率 频谱分析仪 参数测试 峰值功率 工作原理 量值溯源 系统组成 校准装置 仪器设备 校准 功率计 衰减器 移相器 脉冲 配器 驻波 研究
【主权项】:
1.一种T/R组件测试系统校准装置,其特征在于,包括:与被校T/R组件测试系统连接的标准衰减器、标准失配器和标准移相器,用于脉冲S参数的校准;与所述被校T/R组件测试系统连接的第一功率衰减器;与所述第一功率衰减器连接的频谱分析仪,用于频谱、脉冲峰值功率校准;与所述被校T/R组件测试系统连接的第二功率衰减器;与所述第二功率衰减器连接的功率计,用于连续波功率校准。
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