[实用新型]一种高压铂扩散快恢复二极管有效
申请号: | 201721169462.1 | 申请日: | 2017-09-13 |
公开(公告)号: | CN207265065U | 公开(公告)日: | 2018-04-20 |
发明(设计)人: | 蔡寅;张鹏程;周炳 | 申请(专利权)人: | 张家港意发功率半导体有限公司 |
主分类号: | H01L29/861 | 分类号: | H01L29/861;H01L29/06 |
代理公司: | 北京中政联科专利代理事务所(普通合伙)11489 | 代理人: | 曹军 |
地址: | 215600 江苏省苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种高压铂扩散快恢复二极管,包括衬底层、生长在衬底层上的外延层、外延层为N型半导体,外延层上设有多条限位片,两相邻限位片之间的外延层上注入硼,从下到上形成P+区和P++区,构成P++P+结,外侧限位片的外周和衬底层注磷形成N+区,构成P++P+NN+结构,P++区和外侧限位片外周的N+区上溅射有铂层,外延层中部的P++P+结和外侧限位片外周的N+区上沉积有正极接触金属层,外延层中部的P++P+结和外侧限位片外周的N+区之间的P++P+结上设置有电性隔离层,衬底层远离外延层的一面沉积有负极接触金属层。其通过扩散铂层有效降低了器件少数载流子寿命τ从而缩短反向恢复时间Trr。 | ||
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【主权项】:
一种高压铂扩散快恢复二极管,其特征在于,包括衬底层、生长在衬底层上的外延层、所述外延层为N型半导体,所述外延层上设有多条限位片,两相邻限位片之间的外延层上注入硼,从下到上形成P+区和P++区,构成P++P+结,外侧限位片的外周和衬底层注磷形成N+区,构成P++P+NN+结构,所述P++区和外侧限位片外周的N+区上溅射有铂层,所述外延层中部的P++P+结和外侧限位片外周的N+区上沉积有正极接触金属层,所述外延层中部的P++P+结和外侧限位片外周的N+区之间的P++P+结上设置有电性隔离层,所述衬底层远离外延层的一面沉积有负极接触金属层。
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