[实用新型]一种用于晶振测试的欧姆校正装置有效

专利信息
申请号: 201720979542.7 申请日: 2017-08-08
公开(公告)号: CN207020297U 公开(公告)日: 2018-02-16
发明(设计)人: 单小荣;喻天雄;夏江华;徐先德;周光辉 申请(专利权)人: 随州泰华电子科技有限公司
主分类号: G01R35/00 分类号: G01R35/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 441300 湖*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 一种用于晶振测试的欧姆校正装置,包括工作台和测试装置,所述测试装置位于工作台的上方,测试装置包括探针,所述工作台上放置有两个欧姆校正台,两个欧姆校正台上分别放置有零欧姆PCB板和五十欧姆PCB板,测试装置通过十字型导轨与工作台相连,十字型导轨包括水平导轨和竖直导轨,竖直导轨上设置有滑槽。本实用新型结构简单、使用方便、校正准确。
搜索关键词: 一种 用于 测试 欧姆 校正 装置
【主权项】:
一种用于晶振测试的欧姆校正装置,包括工作台(1)和测试装置(2),所述测试装置(2)位于工作台(1)的上方,测试装置(2)包括探针(21),其特征在于:所述工作台(1)上放置有两个欧姆校正台(3),两个欧姆校正台(3)上分别放置有零欧姆PCB板(31)和五十欧姆PCB板(32),测试装置(2)通过十字型导轨(4)与工作台(1)相连,十字型导轨(4)包括水平导轨(41)和竖直导轨(42),竖直导轨(42)上设置有滑槽(43)。
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