[实用新型]用于晶圆测试的探针测试校正装置有效
申请号: | 201720738174.7 | 申请日: | 2017-06-22 |
公开(公告)号: | CN206930687U | 公开(公告)日: | 2018-01-26 |
发明(设计)人: | 吴俊;熊强;袁志伟 | 申请(专利权)人: | 珠海市中芯集成电路有限公司 |
主分类号: | G01R1/067 | 分类号: | G01R1/067;H01L21/66;H01L21/67 |
代理公司: | 珠海智专专利商标代理有限公司44262 | 代理人: | 黄国豪 |
地址: | 519000 广东省珠海市南*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本实用新型提供一种用于晶圆测试的探针测试校正装置,该装置包括底板,底板上设置有转动盘,转动盘内设置有丝杆,丝杆的延伸方向相互垂直,转动盘上设置有放置盘,放置盘内设置有凸起块,丝杆与凸起块邻接,放置盘的端面设置有吸附槽,转动盘与放置盘内均贯穿有真空管,真空管与吸附槽连通,底板上设置有连杆,连杆的第一端连接第一转动杆,连杆的第二端邻接真空管,转动盘的两侧均设置有固定架,放置盘设置在固定架之间,固定架上还设置有校正板,校正板上的开孔的中心与放置盘的中心共线设置,采用以上结构,通过校正黄钻之的多维度自由调节,在辅助焊接探针的过程中,探针能够准确接触晶圆上的芯片,保证探针焊接位置的精准度。 | ||
搜索关键词: | 用于 测试 探针 校正 装置 | ||
【主权项】:
用于晶圆测试的探针测试校正装置,其特征在于,包括:底板,所述底板上设置有第一通孔、第二通孔;转动盘,所述转动盘可旋转地设置在所述底板上,所述转动盘上设置有第三通孔,所述转动盘内设置有两根丝杆,两根所述丝杆的延伸方向相互垂直;放置盘,所述放置盘可旋转地设置在所述转动盘上,所述放置盘靠近所述转动盘的一面设有开孔,沿所述开孔的边缘设置有凸起块,所述丝杆与所述凸起块邻接,所述放置盘的端面设置有吸附槽,所述开孔、所述第一通孔与所述第三通孔相互连通,所述开孔、所述第一通孔与所述第三通孔均贯穿有真空管;所述底板远离所述转动盘的一面设置有连杆,所述连杆的第一端连接第一螺杆,所述第一螺杆贯穿所述第二通孔,所述连杆的第二端邻接所述真空管;所述转动盘的两侧均设置有固定架,所述放置盘设置在所述固定架之间,所述固定架远离所述放置盘的一侧设有定位块;所述固定架上设置有校正板,所述校正板的第一端与第二端均设有定位孔,所述定位块贯穿所述定位孔,所述校正板的第一端与第二端之间设有校正部,所述校正部设置在所述转动盘两侧的所述固定架之间,所述校正部上设有开孔,所述开孔的圆心与所述放置盘的圆心在竖直方向上共线设置。
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