[实用新型]半导体封装模具有效
申请号: | 201720622785.5 | 申请日: | 2017-05-31 |
公开(公告)号: | CN206742195U | 公开(公告)日: | 2017-12-12 |
发明(设计)人: | 代迎桃;吴书深;陈昌太;张世勇 | 申请(专利权)人: | 安徽大华半导体科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/56 | 分类号: | H01L21/56;H01L21/67 |
代理公司: | 北京双收知识产权代理有限公司11241 | 代理人: | 王菊珍 |
地址: | 230088 安*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 一种半导体封装模具,包括上基座组件和下基座组件,上基座组件包括上垫板、上模板、上左滑道、上左挡板、上左盖板、上右盖板、上右挡板、上右滑道、上前内侧挡板、上前外侧挡板、上后内侧挡板和上后外侧挡板,上左滑道、上前内侧挡板、上右滑道、上后内侧挡板和上模板围有用于安装封装模盒上半组件的上安装腔,下基座组件包括下左盖板、下左滑道、下左挡板、下模板、下垫板、下右滑道、下右挡板、下右盖板、下前内侧挡板、下前外侧挡板、下后内侧挡板和下后外侧挡板,下左滑道、下前内侧挡板、下右滑道、下后内侧挡板和下模板围有用于安装封装模盒下半组件的下安装腔。本实用新型使用方便,通用性强,能够很好地提高封装厂家设备的利用率。 | ||
搜索关键词: | 半导体 封装 模具 | ||
【主权项】:
一种半导体封装模具,其特征在于:包括用于与压机上台板连接的上基座组件以及用于与压机下台板连接的下基座组件;所述上基座组件包括上垫板(10)、上模板(12)、上左滑道(14)、上左挡板(13)、上左盖板(15)、上右盖板(16)、上右挡板(18)、上右滑道(19)、上前内侧挡板、上前外侧挡板、上后内侧挡板以及上后外侧挡板,所述上模板(12)装在上垫板(10)底部,所述上左滑道(14)、上左挡板(13)、上右滑道(19)、上右挡板(18)、上前内侧挡板、上前外侧挡板、上后内侧挡板以及上后外侧挡板均装在上模板(12)底部,所述上前内侧挡板和上后内侧挡板分别贴靠在上前外侧挡板和上后外侧挡板的内侧,所述上左滑道(14)和上右滑道(19)分别贴靠在上左挡板(13)和上右挡板(18)的内侧,所述上模板(12)底面上设有若干用于安装上左滑道(14)、上左挡板(13)、上右滑道(19)和上右挡板(18)的上安装孔,所述上左盖板(15)和上右盖板(16)分别装在上左挡板(13)和上右挡板(18)的底部,所述上左滑道(14)、上前内侧挡板、上右滑道(19)、上后内侧挡板和上模板(12)之间共同围成一个用于安装封装模盒上半组件的上安装腔(17);所述下基座组件包括下左盖板(30)、下左滑道(32)、下左挡板(31)、下模板(33)、下垫板(35)、下右滑道(39)、下右挡板(40)、下右盖板(41)、下前内侧挡板、下前外侧挡板、下后内侧挡板以及下后外侧挡板,所述下模板(33)装在下垫板(35)顶部,所述下左挡板(31)、下左滑道(32)、下右滑道(39)、下右挡板(40)、下前内侧挡板、下前外侧挡板、下后内侧挡板和下后外侧挡板均装在下模板(33)顶部,所述下前内侧挡板和下后内侧挡板分别贴靠在下前外侧挡板和下后外侧挡板的内侧,所述下左滑道(32)和下右滑道(39)分别贴靠在下左挡板(31)和下右挡板(40)的内侧,所述下模板(33)顶面上设有若干用于安装下左滑道(32)、下左挡板(31)、下右滑道(39)和下右挡板(40)的下安装孔(330),所述下左滑道(32)、下前内侧挡板、下右滑道(39)、下后内侧挡板和下模板(33)之间共同围成一个用于安装封装模盒下半组件的下安装腔(37),所述下模板(33)和下垫板(35)上装有浇注系统和顶料系统。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造