[实用新型]一种用于测量物质光学参数的漫射光子密度波系统有效
| 申请号： | 201720520849.0 | 申请日： | 2017-05-11 |
| 公开（公告）号： | CN207693550U | 公开（公告）日： | 2018-08-07 |
| 发明（设计）人： | 王慧泉;何鑫伟;缪竟鸿;王金海;赵喆 | 申请（专利权）人： | 天津工业大学 |
| 主分类号： | A61B5/00 | 分类号： | A61B5/00 |
| 代理公司： | 天津滨海科纬知识产权代理有限公司 12211 | 代理人： | 李雪 |
| 地址： | 300000 *** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本实用新型提供一种用于测量物质光学参数的漫射光子密度波系统，网络分析仪发出的高频信号进入T型偏置器，在叠加直流驱动信号后，经射频开关驱动激光器输出调制光信号，照射到待测物体，携带待测物体信息的输出光经光纤进入光电检测器，光信号转换成电信号后，返回到网络分析仪中，最终电脑端对数据进行分析和处理，得到物体的光学参数。本实用新型能够快速实现在高频信号领域测量组织的光学参数，且用辐射方程对得到的信息进行拟合处理，能够快速精确获得待测物体的吸收系数及约化散射系数。 | ||
| 搜索关键词： | 光学参数 待测物体 本实用新型 光子密度波 网络分析仪 测量物质 高频信号 漫射 约化散射系数 直流驱动信号 光电检测器 光信号转换 驱动激光器 测量组织 拟合处理 射频开关 输出调制 吸收系数 电脑端 偏置器 输出光 叠加 照射 光纤 携带 返回 辐射 分析 | ||
【主权项】：
1.一种用于测量物质光学参数的漫射光子密度波系统，其特征在于：包括网络分析仪、直流电流源、T型偏置器、射频开关、激光器和光电检测器，所述网络分析仪和直流电流源分别与T型偏置器相连，T型偏置器与射频开关相连，射频开关与激光器相连，激光器与待测物体相连，待测物体与光电探测器相连，光电探测器与网络分析仪相连；网络分析仪发出的高频信号进入T型偏置器，在叠加直流驱动信号后，经射频开关驱动激光器输出调制光信号，照射到待测物体，携带待测物体信息的输出光经光纤进入光电检测器，最后信息进入网络分析仪。
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