[实用新型]一种新型的微小物体质量测量仪

摘要

本实用新型提供一种新型的微小物体质量测量仪，该装置利用了劈尖干涉原理与胡克定律。钠光灯光线直射到劈尖表面，产生干涉条纹，利用待测物体的重力使弹簧产生一个微小的形变量，弹簧通过连杆带动劈尖上下板相对转动，使干涉条纹的间距发生改变，CCD检测系统可以通过读数显微镜捕捉到干涉条纹的变化，并将其转变为电信号输入到计算机进行计算出待测物体的质量。本实用新型技术方案新颖、创新度高，系统稳定性好、精确度高、且成本低。该测量仪在k=3.712N/m的情况下理论上的测量范围为20‑50mg，测量精度达到1mg。且可以通过更换弹簧从而可以适应不同的量程要求，具有很大的实用性。

主权项

一种新型的微小物体质量测量仪，其特征在于：包括支架(1)、托盘(3)、弹性悬挂线(2)、连接杆(4)、劈尖(5)、支撑台(6)、读数显微镜(7)、CCD检测系统(8)、钠光灯(9)和计算机，所述托盘(3)通过弹性悬挂线(2)悬挂于支架(1)上，所述连接杆(4)一端固定在托盘(3)或弹性悬挂线(2)上、另一端与劈尖(5)的上板连接，劈尖(5)的上板与下坂转动连接，劈尖(5)下板和读数显微镜(7)置于支撑台(6)上，钠光灯(9)产生的定波长的光照射在劈尖(5)上，读数显微镜(7)的物镜对准劈尖(5)、目镜上设置CCD检测系统(8)的探测头，CCD检测系统(8)连接至计算机(10)。