[实用新型]一种测量高反镜反射率的装置

摘要

本实用新型专利涉及一种用于测量高反镜反射率的装置，其结构包括LED驱动模块，LED光源，光学耦合器，滤光片，反射镜，氦氖激光器，待测高反镜，标准高反镜，光电探测器，锁相放大模块，数据采集卡，计算机。本实用新型通过测量光电探测器接受到的探测信号和光源调制信号之间的相位差计算得到两面高反镜的平均反射率，已知标准高反镜反射率，可以计算出待测高反镜的反射率，软件在线处理数据并输出测量结果。本实用新型装置简单、精度高、成本低，可移植性好。

主权项

一种测量高反镜反射率的装置包括：LED驱动模块(1)，LED光源(2)，光学耦合器(3)，滤光片(4)，反射镜(5)，氦氖激光器(6)，待测高反镜(7a)，标准高反镜(7b)，光电探测器(8)，锁相放大模块(9)，数据采集卡(10)，计算机(11)，其特征在于：先在光学腔末端装上标准高反镜(7b)，打开氦氖激光器(6)，待激光稳定后，经过两个45°角的反射镜(5)，使得光经过标准高反镜(7b)后，能够沿光轴返回，再装上待测高反镜(7a)，使反射光与入射光重合，此时启动LED驱动模块(1)驱动LED光源(2)并给光源一个特定频率的方波调制信号，同时将该特定频率的方波信号作为参考信号传输至锁相放大模块(9)，LED光经过一个光学耦合器(3)和一个滤光片(4)后，从待测高反镜(7a)入射，并在两面高反镜内多次反射，由光电探测器(8)探测从标准高反镜(7b)处透射的光信号，然后将光电探测器(8)的探测信号作为输入信号传输至锁相放大模块(9)，通过锁相放大模块(9)解调出参考信号和输入信号的相位差，将相位差信号传输至数据采集卡(10)进行实时快速的采集，最后通过计算机(11)进行相关的数学算法处理分析得到待测高反镜(7a)的反射率。