[实用新型]一种颗粒检测工装有效
申请号: | 201720317644.2 | 申请日: | 2017-03-29 |
公开(公告)号: | CN206618707U | 公开(公告)日: | 2017-11-07 |
发明(设计)人: | 陶杰;戴斌;陈华;张伟斌;杨存丰;刘晨;刘本德;王依全 | 申请(专利权)人: | 中国工程物理研究院化工材料研究所 |
主分类号: | G01N23/04 | 分类号: | G01N23/04 |
代理公司: | 四川省成都市天策商标专利事务所51213 | 代理人: | 龚海月,王荔 |
地址: | 621000*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种颗粒检测工装,包括上样品托盘、下样品托盘和两根定位销,上样品托盘和下样品托盘均为圆盘结构,上样品托盘的下表面加工有多个未穿孔的半球孔,下样品托盘的上表面加工有多个未穿孔的圆锥孔,半球孔与圆锥孔一一对应,半球孔的孔径≥所述圆锥孔的最大孔径,每个样品托盘上各加工两个定位销孔,一个位于样品托盘中央,另一个位于样品托盘边缘;上样品托盘的下表面和下样品托盘的上表面叠合在一起使圆锥孔和半球孔一一对应相扣,两根圆柱状定位销分别插入样品托盘中央和边缘的定位销孔中将上样品托盘和下样品托盘定位在一起。该工装可针对颗粒样品进行批量检测,并确保了颗粒检测过程中的安全性,同时大幅提高了检测效率。 | ||
搜索关键词: | 一种 颗粒 检测 工装 | ||
【主权项】:
一种颗粒检测工装,其特征在于包括上样品托盘(1)、下样品托盘(2)和两根定位销(3),所述上样品托盘和下样品托盘均为圆盘结构,上样品托盘的下表面加工有多个未穿孔的半球孔(4),下样品托盘的上表面加工有多个未穿孔的圆锥孔(5),所述半球孔与圆锥孔一一对应,所述半球孔的孔径≥所述圆锥孔的最大孔径,每个样品托盘上各加工两个定位销孔,一个位于样品托盘中央,另一个位于样品托盘边缘;上样品托盘的下表面和下样品托盘的上表面叠合在一起使圆锥孔和半球孔一一对应相扣,两根圆柱状定位销分别插入样品托盘中央和边缘的定位销孔中将上样品托盘和下样品托盘定位在一起。
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