[实用新型]一种用于半导体测试系统的人工测试控制装置有效
| 申请号： | 201720277010.9 | 申请日： | 2017-03-21 |
| 公开（公告）号： | CN206773140U | 公开（公告）日： | 2017-12-19 |
| 发明（设计）人： | 汤优培;郭昭雄 | 申请（专利权）人： | 广州新星微电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 深圳市科吉华烽知识产权事务所(普通合伙)44248 | 代理人： | 胡吉科 |
| 地址： | 510880 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型提供一种用于半导体测试系统的人工测试控制装置，属于电子元器件测试装置领域。本实用新型包括通讯接口、测试启动模块、控制处理模块、显示模块，所述控制处理模块通过所述通讯接口与半导体测试系统相连，所述测试启动模块的输出端与控制处理模块输入端相连，所述控制处理模块输出端与所述显示模块输入端相连。本实用新型的有益效果为适用于少量的电子元器件的测试检验，与自动化控制装置相比，成本大大降低，结构简单，操作便捷。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 半导体 测试 系统 人工 控制 装置 | ||
【主权项】：
一种用于半导体测试系统的人工测试控制装置，其特征在于：包括通讯接口、测试启动模块、控制处理模块、显示模块，所述控制处理模块通过所述通讯接口与半导体测试系统相连，所述测试启动模块的输出端与控制处理模块输入端相连，所述控制处理模块输出端与所述显示模块输入端相连。
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