[实用新型]一种用于制备原子力显微镜针尖的样品

摘要

本实用新型涉及原子力显微镜领域，一种用于制备原子力显微镜针尖的样品，制备装置主要包括电阻、悬臂、针尖、样品、样品与针尖之间的间隙处、刺状物、电流反馈系统、光电反馈系统、压电驱动器、电源U，所述样品包括第一样品和第二样品，所述第一样品表面具有以阵列排布的倒锥体凹陷坑，每隔100nm有一个直径100nm、深度30nm的凹陷坑，所述第二样品表面具有以阵列排布的突起，每隔20nm有一个高20nm、直径10nm的突起，也可以是向同一朝向倾斜的突起，通过第一样品和第二样品的前后应用，在所述样品与针尖之间的间隙处形成的高电场作用下，能够使得所述针尖前端生长出长度几百纳米的垂直于样品表面的符合实验要求的所述刺状物，加快了实验进程。

主权项

一种用于制备原子力显微镜针尖的样品，制备原子力显微镜针尖的装置主要包括电阻(1)、悬臂(2)、针尖(3)、样品(4)、样品与针尖之间的间隙处(5)、刺状物(6)、电流反馈系统(7)、光电反馈系统(8)、压电驱动器(9)、电源U，其中电源U正极连样品(4)、负极依次连电阻(1)、电流反馈系统(7)、悬臂(2)与针尖(3)，所述针尖(3)固定于所述悬臂(2)下方，所述样品(4)位于所述针尖(3)下方；当所述针尖(3)逼近所述样品(4)表面到一定距离时，将所述电源U通过所述电阻(1)加到所述针尖(3)，能够在所述样品与针尖之间的间隙处(5)形成一个高电场，从而使得所述针尖(3)前端生长出长度几百纳米的垂直于样品表面的符合实验要求的所述刺状物(6)，其特征是：所述样品(4)包括第一样品和第二样品，所述第一样品表面具有以阵列排布的倒锥体凹陷坑，每隔100nm有一个直径100nm、深度30nm的凹陷坑，所述第二样品表面具有以阵列排布的突起，每隔20nm有一个高20nm、直径10nm的突起。