[实用新型]一种全透明晶体测量用套件

摘要

本实用新型公开了一种全透明晶体测量用套件，包括测量头、底座，所述底座的上壁安装有感测区，且底座的上方固定有工作台，所述工作台的上方一侧套接有遮挡套件，所述支臂的上方套接有测量头，所述测量头的左壁一侧开设有调节旋钮，且测量头的一侧连接有控制面板，所述底座的上方两侧固定有挡板，且底座的下方拐角处固定有支脚。本实用新型中，该全透明晶体测量用套件，其上设置了测量头，其遮挡套件主要用来校正放置全晶体，遮挡套件底部设置有透明挡板，而其工作台底部又直接设置了感测区，主要用来感测数据并且传输到系统内部进行分析，该全透明晶体测量用套件结构简单，设计合理，测量精度较高值得大力推广。

主权项

一种全透明晶体测量用套件，包括测量头（1）、底座（8），其特征在于，所述底座（8）的上壁安装有感测区（7），且底座（8）的上方固定有工作台（12），所述工作台（12）的上方一侧套接有遮挡套件（13），且工作台（12）的上方连接有支臂（11），所述支臂（11）的上方套接有测量头（1），所述测量头（1）的左壁一侧开设有调节旋钮（10），且测量头（1）的一侧连接有控制面板（3），所述控制面板（3）通过电接粘条（2）连接在测量头（1）上，且控制面板（3）的外壁一侧设有触控屏（4），所述触控屏（4）的一侧下方设有开关按钮（5），所述底座（8）的上方两侧固定有挡板（6），且底座（8）的下方拐角处固定有支脚（9）。