[实用新型]一种集成电路测试用的探针有效
| 申请号： | 201720145753.0 | 申请日： | 2017-02-17 |
| 公开（公告）号： | CN206515371U | 公开（公告）日： | 2017-09-22 |
| 发明（设计）人： | 陈家锋;李涌;陶杉 | 申请（专利权）人： | 深圳凯智通微电子技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/067 | 分类号： | G01R1/067 |
| 代理公司： | 深圳市中科创为专利代理有限公司44384 | 代理人： | 高早红,谢亮 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市宝安*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种集成电路测试用的探针，包括一体成型的探针主体，探针主体包括上接触端、弯折段和下接触端，其中，弯折段通过冲压形成一包圆的弹性体；并且，还设置一包覆在探针主体的外壳体，外壳体与探针主体的下接触端一体成型，并且，其与探针主体的上接触端活动分离设置。本实用新型探针是一体的及没有内部摩擦影响寿命，一般寿命可以达到常规探针的5倍以上，且导通性能比一般探针的更好及电气参数远优于常规探针。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 集成电路 测试 探针 | ||
【主权项】：
一种集成电路测试用的探针，其特征在于：包括一体的探针主体，探针主体包括上接触端、弯折段和下接触端，其中，弯折段形成一包圆的弹性体；并且，还设置一包覆在探针主体的外壳体，外壳体与探针主体的下接触端一体成型，并且，其与探针主体的上接触端活动分离设置。
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