[发明专利]一种针对SPI接口的测试方法

摘要

本发明提供了一种针对SPI接口的测试方法，通过在测试方法中增加测试TE信号、硬件ID值的步骤，可以防止TE信号异常的产品漏检，降低不良品的漏检率，降低客户的客诉率，对硬件ID值的检测可以检测出硬件电阻的假焊、电阻错用的问题，同时在多个显示模组的生产商均使用同一款控制芯片时，客户也能轻松区分出每一个显示模组的生产商所生产的产品，便于倒查不良品的来源。

主权项

1.一种针对SPI接口的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、将测试治具与待检测产品电性连接，接通测试治具的电源，所述的测试治具包括检测ID信号和TE信号的功能，并预设有硬件ID标准值、软件ID标准值、TE频率标准值；所述的待检测产品包括背光源、液晶显示屏及FPC板，所述的FPC板与所述的液晶显示屏相连，所述的FPC板上设有电阻、控制芯片、TE引脚和ID引脚；S2、测试治具通过检测ID引脚获取电阻值，所述的电阻值对应液晶显示屏的硬件ID值；S3、判断所述的硬件ID值与硬件ID标准值之间的关系；若所述的硬件ID值不属于所述的硬件ID标准值的范围，则进入S4；若所述的硬件ID值属于所述的硬件ID标准值的范围，则进入S5；S4、背光源闪烁，表示液晶显示屏的硬件ID值异常，待检测产品不合格，检测过程结束，更换下一个待检测产品，返回S1；S5、背光源正常显示，测试治具通过检测TE引脚获取TE频率值；S6、判断所述的TE频率值与TE频率标准值之间的关系；若所述的TE频率值不属于所述的TE频率标准值的范围，则进入S7；若所述的TE频率值属于所述的TE频率标准值的范围，则进入S8；S7、背光源闪烁，表示待检测产品的TE频率值异常，待检测产品不合格，检测过程结束，更换下一个待检测产品，返回S1；S8、背光源正常显示，测试治具通过检测ID引脚获取控制芯片所对应的软件ID值；S9、判断所述的软件ID值与所述的软件ID标准值之间的关系，若所述的软件ID值等于所述的软件ID标准值，则进入S10；若所述的软件ID值不等于所述的软件ID标准值，则进入S11；S10、测试治具显示软件ID值异常，待检测产品不合格，检测过程结束，更换下一个待检测产品，返回S1；S11、对液晶显示屏的画面显示功能进行检测，依次分别使用测试图片、黑画面、白画面、红画面、绿画面和蓝画面进行测试；S12、判断各个画面显示是否正常，若任一画面显示异常，则进入S13；若全面画面均显示正常，则进入S14；S13、液晶显示屏的画面显示功能异常，待检测产品不合格，更换下一个待检测产品，返回S1；S14、待检测产品合格，检测过程结束，更换下一个待检测的产品，返回S1。