[发明专利]一种大规模红外焦平面实时非均匀性校正系统及其方法在审
| 申请号： | 201711446131.2 | 申请日： | 2017-12-27 |
| 公开（公告）号： | CN109974857A | 公开（公告）日： | 2019-07-05 |
| 发明（设计）人： | 郁雷 | 申请（专利权）人： | 上海德运光电技术有限公司 |
| 主分类号： | G01J5/00 | 分类号： | G01J5/00 |
| 代理公司： | 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 | 代理人： | 宣慧兰 |
| 地址： | 200083 上海市虹口*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种大规模红外焦平面实时非均匀性校正系统及其方法，该校正系统包括大容量非易失存储器、参数存储器SRAM和逻辑时序控制电路；逻辑时序控制电路包括主控模块和连接主控模块的非易失存储器读写控制模块、SRAM读写控制模块、参数上注模块、校正运算模块，还包括连接校正运算模块的图像数据输入接口和图像数据输出接口；大容量非易失存储器连接参数存储器SRAM和非易失存储器读写控制模块，参数存储器SRAM还连接SRAM读写控制模块和校正运算模块。与现有技术相比，本发明在保证运算精度的同时可以有效保证校正速度，具有参数存储量大、运算实时性高及可用于大规模面阵探测器的实时校正等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 读写控制模块 非易失存储器 校正运算模块 逻辑时序控制电路 非均匀性校正 参数存储器 红外焦平面 主控模块 大容量 运算 图像数据输出接口 图像数据输入接口 参数存储量 大规模面阵 连接参数 实时校正 存储器 实时性 正系统 探测器 可用 校正 保证 | ||
【主权项】：
1.一种大规模红外焦平面实时非均匀性校正系统，其特征在于，包括大容量非易失存储器、参数存储器SRAM和逻辑时序控制电路；所述逻辑时序控制电路包括主控模块和连接所述主控模块的非易失存储器读写控制模块、SRAM读写控制模块、参数上注模块、校正运算模块，还包括连接所述校正运算模块的图像数据输入接口和图像数据输出接口；所述大容量非易失存储器连接参数存储器SRAM和非易失存储器读写控制模块，所述参数存储器SRAM还连接SRAM读写控制模块和校正运算模块。
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