[发明专利]颗粒物检测前处理设备在审
申请号: | 201711437343.4 | 申请日: | 2017-12-26 |
公开(公告)号: | CN107991162A | 公开(公告)日: | 2018-05-04 |
发明(设计)人: | 甘佳俊;陈砚;董宁 | 申请(专利权)人: | 苏州市华测检测技术有限公司 |
主分类号: | G01N1/34 | 分类号: | G01N1/34;G01N1/28;G01N1/44;G01N1/22 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 215131 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种颗粒物检测前处理设备,包括储液槽、清洗槽及雾化槽,所述清洗槽内设有若干相互独立的子清洗槽,所述储液槽内装设有清洗液,且所述储液槽与每个所述子清洗槽均连通,所述清洗槽还设有可进入每个所述子清洗槽的超声波清洗设备,颗粒物采样滤膜固定于所述超声波清洗设备上,颗粒物采样滤膜随着所述超声波清洗设备进入每个所述子清洗槽,每个所述子清洗槽均与所述雾化槽连通,所述雾化槽连接大型实验仪器。本发明公开了一种能够对滤膜上的颗粒物进行彻底清洗、结构简单、自动化程度高的颗粒物检测前处理设备。 | ||
搜索关键词: | 颗粒 检测 处理 设备 | ||
【主权项】:
一种颗粒物检测前处理设备,包括:储液槽、清洗槽及雾化槽,其特征在于,所述清洗槽内设有若干相互独立的子清洗槽,所述储液槽内装设有清洗液,且所述储液槽与每个所述子清洗槽均连通,所述清洗槽还设有可进入每个所述子清洗槽的超声波清洗设备,颗粒物采样滤膜固定于所述超声波清洗设备上,颗粒物采样滤膜随着所述超声波清洗设备进入每个所述子清洗槽,每个所述子清洗槽均与所述雾化槽连通,所述雾化槽连接大型实验仪器。
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