[发明专利]一种近红外光谱采样方法在审
| 申请号： | 201711421858.5 | 申请日： | 2017-12-25 |
| 公开（公告）号： | CN108195795A | 公开（公告）日： | 2018-06-22 |
| 发明（设计）人： | 闫晓剑 | 申请（专利权）人： | 四川长虹电器股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/359 | 分类号： | G01N21/359 |
| 代理公司： | 成都虹桥专利事务所(普通合伙) 51124 | 代理人： | 吴中伟 |
| 地址： | 621000 四*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明涉及近红外光谱分析技术领域，公开了一种近红外光谱采样方法，实现近红外光谱信号的逐点编程，提高不同类型样品的近红外光谱数据的区分度。本发明首先依据样品的光谱特征和/或光谱仪的光源特征拟合采样函数；当接收到光敏电流数据后，将接收到的光敏电流数据逐点经过拟合的采样函数处理，形成逐点的采样数据；最后基于逐点的采样数据形成近红外光谱。本发明适用于近红外光谱分析。 | ||
| 搜索关键词： | 近红外光谱 近红外光谱分析 采样函数 采样数据 光敏电流 采样 拟合 近红外光谱数据 近红外光谱信号 光谱仪 光谱特征 光源特征 区分度 编程 | ||
【主权项】：
1.一种近红外光谱采样方法，其特征在于，包括步骤：依据样品的光谱特征和/或光谱仪的光源特征拟合采样函数；当接收到光敏电流数据后，将接收到的光敏电流数据逐点经过拟合的采样函数处理，形成逐点的采样数据；基于逐点的采样数据形成近红外光谱。
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