[发明专利]文物的高分子保护材料水和盐溶液吸附性能的测试方法在审

专利信息
申请号: 201711395903.4 申请日: 2017-12-21
公开(公告)号: CN108181349A 公开(公告)日: 2018-06-19
发明(设计)人: 和玲;贾孟军 申请(专利权)人: 西安交通大学
主分类号: G01N27/00 分类号: G01N27/00
代理公司: 西安智大知识产权代理事务所 61215 代理人: 弋才富
地址: 710049 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 文物的高分子保护材料水和盐溶液吸附性能的测试方法,石英微晶天平利用压电效应即在石英表面加上电位差,引起石英晶体的机械形变,若使用交变电场,则会在晶格内引起机械振荡;振荡的频率为晶体的固有频率当与振荡电路频率一致时便产生共振,振幅急剧增加;当石英晶体表面吸附有物质时,质量变化会引起谐振频率f的变化,且当晶体表面吸附层很薄、均匀且为刚性时,晶体谐振频率的下降与其表面吸附的质量成正比;测试Δf曲线的变化便可以知道吸附或解吸物质的质量,本发明具有方便快捷,灵敏度高,实验结果准确等优点。
搜索关键词: 高分子保护 吸附性能 盐溶液 测试 吸附 电位差 晶体谐振频率 石英晶体表面 振荡电路频率 表面吸附 固有频率 机械形变 机械振荡 交变电场 晶体表面 石英表面 石英晶体 谐振频率 压电效应 质量变化 成正比 晶体的 灵敏度 吸附层 文物 振荡 共振 解吸 晶格 石英
【主权项】:
1.文物的高分子保护材料水和盐溶液吸附性能的测试方法,其特征在于,包括以下步骤:一、芯片的清洗金芯片:用四氢呋喃THF或氯仿CHCl3浸泡芯片5min后用去离子水冲洗完全,再配置清洗液,清洗液为纯水:25%氨水:30%过氧化氢体积比=5:1:1,75℃下浸泡芯片10min,停止加热后继续浸泡5min,用一次性针管吸取无水乙醇冲洗芯片正面后,氮气吹干备用;硅芯片:2%SDS洗液,超声清洗10min或者室温浸泡30min,用四氢呋喃THF或氯仿CHCl3浸泡芯片5min后用去离子水冲洗完全,用一次性针管吸取无水乙醇冲洗芯片正面后,氮气吹干备用;二、样品的制备使用四氢呋喃THF或氯仿CHCl3作为分散剂配制成质量分数为3%的溶液,取上述配制好的3%的溶液滴涂于已清洗好的金芯片或硅芯片正中心,室温下放置24小时,待分散剂挥发完全后,放置于50℃真空干燥箱中24小时,取出备用;三、保护涂层吸附性测试按照石英微晶天平操作芯片安装及管路连接方法将制好的芯片装入流动池中,确认各倍频下芯片性能完好后,设置实验温度为25±1℃,蠕动泵流速为0.15mL/min,启动蠕动泵,进一段时间空气,观察数据曲线△f和△D基线平稳后正式测量,若基线不稳定可以多次通过重新开始基线进行调整;水吸附量测试:空气基线平稳后,将进样管插入去离子水中,观察数据曲线变化,待△fw曲线出现平台且半小时内不再发生变化,则认为实验已结束;盐溶液吸附量的测试:空气基线平稳后,将进样管插入去离子水中,观察数据曲线变化,待水吸附△fw曲线走平且半小时内无变化后,将进样管插入配制好的一定浓度的盐溶液中,观察曲线变化,当盐吸附△fs曲线出现平台且半小时内不再发生变化,则认为实验已结束;实验结束后,继续转动蠕动泵,通入去离子水半小时,清洗并干燥流通管道,防止影响下次实验;四、数据处理与表示使用Qtools软件打开已保存的实验数据并导出,然后使用Origin软件绘制时间与△fw或△fs的曲线,在水吸附性能测试中,△fw可直接用于比较吸附水的量;在盐溶液的吸附性能测试中,需要用吸附盐溶液的△fs值减去吸附水的△fw值从而判断出保护涂层对不同盐溶液的吸附性能。
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