[发明专利]一种计轴电子接口装置的测试系统

摘要

本发明提供了一种计轴电子接口装置的测试系统，计轴电子接口装置可分别与多个计轴主机和联锁系统连接，将采集计轴主机的占用检查结果上传联锁系统，并将联锁系统反馈的复位指令下发至计轴主机。而测试系统则通过上位机和计轴测量电路对计轴电子接口装置的采集转发和解码控制功能进行测试和验证。基于此，在消除大量分散布置的重力型继电器的基础上完成了测试，从而解决安装和维护困难的问题。

主权项

1.一种计轴电子接口装置的测试系统，其特征在于，所述计轴电子接口装置包括至少一个接口单元，所述接口单元包括网关、芯片、选通控制电路、多个现场可编程门阵列FPGA、多个采集电路和多个驱动电路；所述网关的一端与联锁系统相连，所述网关的另一端与所述芯片的一端相连，所述芯片的另一端所述选通控制电路的一端相连，所述选通控制电路的另一端与所述多个FPGA的一端相连，所述FPGA的另一端与计轴主机相连；其中，所述FPGA通过所述采集电路与计轴主机的输出端口相连，通过所述驱动电路与所述计轴主机的采集端口相连；所述芯片通过所述选通控制电路控制目标FPGA导通；所述目标FPGA通过所述采集电路从所述计轴主机的输出端口处获取占用检查结果，并通过所述选通控制电路将所述占用检查结果发送至所述芯片，以使所述芯片向所述网关发送所述占用检查结果；所述网关在接收到所述占用检查结果时，将所述占用检查结果发送至所述联锁系统；在接收到所述联锁系统下发的复位指令时，将所述复位指令发送至所述芯片；所述芯片将接收到的所述复位指令通过所述选通控制电路发送至所述目标FPGA，以使所述目标FPGA将所述复位指令通过所述驱动电路向所述计轴主机的采集端口发送；所述测试系统包括上位机和多个计轴测试电路，所述上位机设置有安全通信接口，所述计轴测试电路设置有测试输出端口和测试采集端口；所述计轴测试电路的测试输出端口与所述采集电路相连，所述计轴测试电路的测试采集端口与所述驱动电路相连；所述上位机基于第一预设配置参数建立所述安全通信接口和所述网关的通信连接；所述计轴测试电路生成测试占用检查结果；所述计轴电子接口装置采集所述测试占用检查结果，并通过所述安全通信接口上传至所述上位机；所述上位机解析所述测试占用检查结果，并显示；基于第二预设配置参数生成测试复位指令，并下发至所述计轴电子接口装置；所述计轴电子接口装置将所述测试复位指令发送至所述计轴测试电路；所述计轴测试电路基于所述测试复位指令进行显示。