[发明专利]平板探测器及其残影数据表的生成方法、残影补偿校正方法

摘要

本发明提供一种平板探测器图像残影的补偿校正方法，包括步骤：生成残影数据表，并存储于平板探测器或探测器软件中；获取当前亮场图像和暗场图像；将暗场图像中每个像素的残影信号与残影数据表相对应，找出每个像素的残影信号在残影数据表中对应的残影值和残影值对应的时刻；以残影值对应的时刻加上当前亮场图像与暗场图像采集的时间间隔为新的时刻，在残影数据表中找出新的时刻对应的残影值，生成当前图像评估的残影模板矩阵；用当前亮场图像减去残影模板矩阵进行残影补偿校正。本发明的平板探测器图像残影的补偿校正方法可用于解决复杂的残影问题；适用范围广，不仅适用于非晶硅探测器，还适用于非晶硒、CMOS等其它半导体探测器。

主权项

1.一种残影数据表的生成方法，其特征在于，生成残影数据表的步骤至少包括：在无X射线曝光的情况下采集n张暗场图像，其中，n为不小于4的正整数；将所述暗场图像进行相加并求均值后得到暗场校正模板，用于校正图像的本底暗电流噪声；在设定剂量下对平板探测器进行曝光，并采集当前信号，其中，所述设定剂量满足条件：使平板探测器的读出电路和光电二极管均达到饱和状态；选取多个时间点t₁，t₂，…t_n，在各时间点分别进行暗场图像采集，其中，暗场图像对应表示为：D_t1，D_t2，…D_tn；计算残影值，满足条件：lag_tn＝D_tn‑offset，其中，lag_tn为t_n时间对应的残影值，offset为暗场校正模板；将(lag_t1，lag_t2，…lag_tn)与(t₁，t₂，…t_n)进行拟合得到拟合函数f(t)；根据拟合函数f(t)按照设定时间间隔Δt进行插值，以生成残影数据表。