[发明专利]自激励自检测探针及其制作方法有效
申请号: | 201711383160.9 | 申请日: | 2017-12-20 |
公开(公告)号: | CN108120858B | 公开(公告)日: | 2020-05-26 |
发明(设计)人: | 杨晋玲;刘晓晨;朱银芳;张金英;杨富华 | 申请(专利权)人: | 中国科学院半导体研究所 |
主分类号: | G01R1/067 | 分类号: | G01R1/067;B81C1/00 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 汤宝平 |
地址: | 100083 *** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种自激励自检测探针,包括:一探针基座;一微悬臂梁,用作探测的基本部件,该微悬臂梁与探针基座一端的中间连接,该探针基座对微悬臂梁提供支撑;一探针针尖,位于微悬臂梁的自由端;在探针基座及微悬臂梁表面边缘上有金属导电线,该金属导电线覆盖探针针尖,探针针尖导电性好,可用于检测材料的电学性能;一惠斯通电桥,包括四个U型压阻,其对称分布于探针基座的上表面,其中一个为可变压阻,该可变压阻位于微悬臂梁支撑端应变最大处,可实现高灵敏和高精度的压阻检测。本发明其可减小探测器的体积,实现探测设备的便携化,保证检测的精确度和灵敏度,工艺方法简单,适合批量生产。 | ||
搜索关键词: | 激励 检测 探针 及其 制作方法 | ||
【主权项】:
一种自激励自检测探针,包括:一探针基座;一微悬臂梁,用作探测的基本部件,该微悬臂梁与探针基座一端的中间连接,该探针基座对微悬臂梁提供支撑;一探针针尖,位于微悬臂梁的自由端;在探针基座及微悬臂梁表面边缘上有金属导电线,该金属导电线覆盖探针针尖,探针针尖导电性好,可用于检测材料的电学性能;一惠斯通电桥,包括四个U型压阻,其对称分布于探针基座的上表面,其中一个为可变压阻,该可变压阻位于微悬臂梁支撑端应变最大处,可实现高灵敏和高精度的压阻检测。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院半导体研究所,未经中国科学院半导体研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201711383160.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种通用模拟量输入信号接线模块电路
- 下一篇:一种主动式电磁屏蔽发生装置