[发明专利]自激励自检测探针及其制作方法有效

专利信息
申请号: 201711383160.9 申请日: 2017-12-20
公开(公告)号: CN108120858B 公开(公告)日: 2020-05-26
发明(设计)人: 杨晋玲;刘晓晨;朱银芳;张金英;杨富华 申请(专利权)人: 中国科学院半导体研究所
主分类号: G01R1/067 分类号: G01R1/067;B81C1/00
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 汤宝平
地址: 100083 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种自激励自检测探针,包括:一探针基座;一微悬臂梁,用作探测的基本部件,该微悬臂梁与探针基座一端的中间连接,该探针基座对微悬臂梁提供支撑;一探针针尖,位于微悬臂梁的自由端;在探针基座及微悬臂梁表面边缘上有金属导电线,该金属导电线覆盖探针针尖,探针针尖导电性好,可用于检测材料的电学性能;一惠斯通电桥,包括四个U型压阻,其对称分布于探针基座的上表面,其中一个为可变压阻,该可变压阻位于微悬臂梁支撑端应变最大处,可实现高灵敏和高精度的压阻检测。本发明其可减小探测器的体积,实现探测设备的便携化,保证检测的精确度和灵敏度,工艺方法简单,适合批量生产。
搜索关键词: 激励 检测 探针 及其 制作方法
【主权项】:
一种自激励自检测探针,包括:一探针基座;一微悬臂梁,用作探测的基本部件,该微悬臂梁与探针基座一端的中间连接,该探针基座对微悬臂梁提供支撑;一探针针尖,位于微悬臂梁的自由端;在探针基座及微悬臂梁表面边缘上有金属导电线,该金属导电线覆盖探针针尖,探针针尖导电性好,可用于检测材料的电学性能;一惠斯通电桥,包括四个U型压阻,其对称分布于探针基座的上表面,其中一个为可变压阻,该可变压阻位于微悬臂梁支撑端应变最大处,可实现高灵敏和高精度的压阻检测。
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