[发明专利]对一个待测变压器进行温升试验的方法和装置

摘要

本申请提供一种对一个待测变压器进行温升试验的方法，其中，待测变压器(1)的主边具有一个主边绕组(H)，而其副边具有至少两个副边绕组(LA、LB)，而且至少两个副边绕组的各自阻抗与其容量之间的对应关系偏离反比关系，温升试验方法包括：将补偿变压器(2)作为负载连接到所述待测变压器(1)的副边绕组，补偿变压器(2)具有至少两个补偿绕组(LA’、LB’、LH’)，且补偿绕组(LA’、LB’、LH’)接入所述待测变压器(1)，以使得补偿后的待测变压器(1)各副边绕组的等效阻抗与其容量之间的对应关系满足反比关系；通过向待测变压器(1)的主边绕组(H)加电，使得补偿后的待测变压器(1)运行；对运行的待测变压器(1)进行温升试验。

主权项

1.一种对一个待测变压器进行温升试验的方法，其中，所述待测变压器(1)的主边具有一个主边绕组(H)，而其副边具有至少两个副边绕组(LA、LB)，而且所述至少两个副边绕组的各自阻抗与其容量之间的对应关系偏离反比关系，其特征在于，所述温升试验方法包括：将补偿变压器(2)作为负载连接到所述待测变压器(1)的副边绕组，其中，所述补偿变压器(2)具有至少两个补偿绕组(LA’、LB’、LH’)，且所述补偿绕组(LA’、LB’、LH’)接入所述待测变压器(1)，以使得补偿后的所述待测变压器(1)各副边绕组的等效阻抗与其容量之间的对应关系满足反比关系；通过向所述待测变压器(1)的主边绕组(H)加电，使得补偿后的所述待测变压器(1)运行；对所述运行的待测变压器(1)进行温升试验。