[发明专利]一种对称电磁波电阻率的测量方法在审
申请号: | 201711347755.9 | 申请日: | 2017-12-15 |
公开(公告)号: | CN108019207A | 公开(公告)日: | 2018-05-11 |
发明(设计)人: | 冯建宇;孙勤;马富波 | 申请(专利权)人: | 北京六合伟业科技股份有限公司 |
主分类号: | E21B49/00 | 分类号: | E21B49/00 |
代理公司: | 北京格允知识产权代理有限公司 11609 | 代理人: | 白海燕;张沫 |
地址: | 100070 北京市丰台区*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开一种对称电磁波电阻率的测量方法,适用于深浅地层电阻率测量,分别适应性采用400KHZ和2MHZ的发射电磁波频率,且所述电磁波采用四发双收模式,两个接收天线居中,四个发射天线对称分布于两个接收天线的两侧;测量时对天线的幅度衰减和相位移进行补偿。本发明采用对称性四发双收天线设计,且对幅度衰减和相位移进行补偿,使得电阻率测量准确,能够满足地质导向和地层解释评价的需要。 | ||
搜索关键词: | 一种 对称 电磁波 电阻率 测量方法 | ||
【主权项】:
1.一种对称电磁波电阻率的测量方法,其特征在于:针对深浅地层,分别适应性采用400KHZ和2MHZ的发射电磁波频率测量,且所述电磁波采用四发双收模式,两个接收天线(R1,R2)居中,四个发射天线(T1,T2,T3,T4)对称分布于两个接收天线的两侧;测量时对天线的幅度衰减和相位移进行补偿,其中,幅度衰减表达式为:ATT1F2=-20log10(AR2T1F2/AR1T1F2);ATT2F2=-20log10(AR1T2F2/AR2T2F2);ATT3F2=-20log10(AR2T3F2/AR1T3F2);ATT4F2=-20log10(AR1T4F2/AR2T4F2);ATT1F2表示发射天线(T1)信号幅度衰减变量;ATT2F2表示发射天线(T2)信号幅度衰减变量;ATT3F2表示发射天线(T3)信号幅度衰减变量;ATT4F2表示发射天线(T4)信号幅度衰减变量;AR2T1F2表示接收天线(R2)测量的发射天线(T1)的幅度;AR1T1F2表示接收天线(R1)测量的发射天线(T1)的幅度;AR1T2F2表示接收天线(R1)测量的发射天线(T2)的幅度;AR2T2F2表示接收天线(R2)测量的发射天线(T2)的幅度;AR2T3F2表示接收天线(R2)测量的发射天线(T3)的幅度;AR1T3F2表示接收天线(R1)测量的发射天线(T3)的幅度;AR1T4F2表示接收天线(R1)测量的发射天线(T4)的幅度;AR2T4F2表示接收天线(R2)测量的发射天线(T4)的幅度。
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