[发明专利]CMOS图像传感器及其制作方法在审

专利信息
申请号: 201711345444.9 申请日: 2017-12-15
公开(公告)号: CN107994044A 公开(公告)日: 2018-05-04
发明(设计)人: 梅翠玉;秋沉沉;曹亚民 申请(专利权)人: 上海华力微电子有限公司
主分类号: H01L27/146 分类号: H01L27/146;H01L21/8232
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司31211 代理人: 郭四华
地址: 201203 上海市浦东新区*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种CMOS图像传感器,CMOS图像传感器的像素单元中包括感光二极管的N型注入区和形成在N型注入区的表面P型注入区;P型注入区和N型注入区的区域大小具有由相同的光刻版定义的自对准结构,P型注入区的区域大小是在N型注入区形成之后通过对N型注入区的掩膜进行各项同性的刻蚀后扩大形成的;N型注入区的掩膜由N型注入区对应的光刻版定义。本发明还公开了一种CMOS图像传感器的制造方法。本发明能节省一块光刻版,节约工艺成本,且能提高工艺稳定性,方便量产。
搜索关键词: cmos 图像传感器 及其 制作方法
【主权项】:
一种CMOS图像传感器,其特征在于,CMOS图像传感器的各像素单元中包括:N型注入区和P型注入区;所述N型注入区形成于P型半导体衬底表面且由所述N型注入区和所述P型半导体衬底之间形成的PN结二极管作为感光二极管;所述N型注入区在所述感光二极管感光后存储光生电子;所述P型注入区形成于所述N型注入区的表面并从所述N型注入区的顶部将所述N型注入区覆盖,使所述感光二极管感呈针扎型结构;所述P型注入区和所述N型注入区的区域大小具有由相同的光刻版定义的自对准结构,所述P型注入区的区域大小是在所述N型注入区形成之后通过对所述N型注入区的掩膜进行各项同性的刻蚀后扩大形成的;所述N型注入区的掩膜由所述N型注入区对应的光刻版定义。
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