[发明专利]一种自恢复抗单粒子软错误累积的三模冗余结构有效
| 申请号： | 201711341286.X | 申请日： | 2017-12-14 |
| 公开（公告）号： | CN108055031B | 公开（公告）日： | 2021-04-13 |
| 发明（设计）人： | 刘家齐;赵元富;岳素格;王亮;李建成;孙永姝;王丹;李东强 | 申请（专利权）人： | 北京时代民芯科技有限公司;北京微电子技术研究所 |
| 主分类号： | H03K19/003 | 分类号： | H03K19/003 |
| 代理公司： | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人： | 范晓毅 |
| 地址： | 100076 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种自恢复抗单粒子软错误累积的三模冗余结构，通过增加单粒子软错误检测电路和数据选择电路对电路进行优化设计，基于这种结构的设计能够在三模冗余结构中单路信号翻转后自行恢复，能够有效解决三模冗余结构可能由错误累积导致单粒子加固失效的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 恢复 粒子 错误 累积 冗余 结构 | ||
【主权项】：
1.一种自恢复的抗单粒子错误累积的三模冗余结构，其特征在于包括：三模冗余电路与自恢复电路；其中，三模冗余电路与自恢复电路相连接，自恢复电路根据三模冗余电路的输出进行检测判别检测单粒子软错误，当检测到单粒子软错误时，自恢复电路对三模冗余电路进行置位/复位操作。
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