[发明专利]一种高质量晶圆级硒氧化铋半导体单晶薄膜的批量化制备方法有效
申请号: | 201711315655.8 | 申请日: | 2017-12-12 |
公开(公告)号: | CN108039403B | 公开(公告)日: | 2020-04-07 |
发明(设计)人: | 彭海琳;谭聪伟;吴金雄 | 申请(专利权)人: | 北京大学 |
主分类号: | H01L35/14 | 分类号: | H01L35/14;H01L35/34 |
代理公司: | 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 | 代理人: | 关畅 |
地址: | 100871 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: |
本发明公开了一种高质量晶圆级硒氧化铋半导体单晶薄膜的批量化制备方法。该方法包括:以含有Bi元素和Se元素的化合物为原料,以单晶晶圆为生长基底,进行化学气相沉积,得到所述Bi |
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搜索关键词: | 一种 质量 晶圆级硒 氧化 半导体 薄膜 批量 制备 方法 | ||
【主权项】:
1.一种Bi2 O2 Se薄膜,其特征在于:所述Bi2 O2 Se薄膜由Bi2 O2 Se单晶晶粒拼接而成。
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