[发明专利]使用光学上可感知的几何元素的可测量参数的比值来校准尺寸量定器有效

专利信息
申请号: 201711305960.9 申请日: 2017-12-11
公开(公告)号: CN108225176B 公开(公告)日: 2022-04-12
发明(设计)人: H.S.阿克利;F.拉法格 申请(专利权)人: 手持产品公司
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 周学斌;陈岚
地址: 美国南卡*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及使用光学上可感知的几何元素的可测量参数的比值来校准尺寸量定器。提供了用于校准体积尺寸量定器的系统和方法。在一个实施例中,一种校准系统包括预定义的参考图案,该预定义的参考图案包括多个光学上可感知的元素。所述光学上可感知的元素具有预定义的可测量参数并且彼此分开预定义的距离。校准系统还包括尺寸量定器,其被配置成捕获对象的图像并且至少根据所捕获的图像来计算该对象的物理尺寸。尺寸量定器进一步被配置成捕获预定义的参考图案的一个或多个图像以及计算预定义的可测量参数中的一个与预定义的距离中的一个之间的比值。尺寸量定器进一步被配置成基于所计算出的比值而被校准。
搜索关键词: 使用 光学 感知 几何 元素 可测量 参数 比值 校准 尺寸 量定器
【主权项】:
1.一种系统,包括:预定义的参考图案,其包括多个光学上可感知的元素,所述光学上可感知的元素包括两个或更多个预定义的可测量参数,所述光学上可感知的元素彼此分开预定义的距离;以及尺寸量定器,其被配置成确定对象的至少一个尺寸;其中所述尺寸量定器进一步被配置成捕获所述预定义的参考图案的一个或多个图像并且计算所述预定义的可测量参数中的一个与所述预定义的距离中的一个之间的比值;以及其中所述尺寸量定器进一步被配置成基于所计算出的比值而被校准。
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