[发明专利]芯片量产测试系统有效
| 申请号： | 201711279899.5 | 申请日： | 2017-12-06 |
| 公开（公告）号： | CN107831428B | 公开（公告）日： | 2020-08-07 |
| 发明（设计）人： | 孙浩涛;田军;贾红;程显志;陈维新;韦嶔 | 申请（专利权）人： | 西安智多晶微电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 西安嘉思特知识产权代理事务所(普通合伙) 61230 | 代理人： | 刘长春 |
| 地址： | 710075 陕西省西安*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种芯片量产测试系统。该测试系统包括测试机110；第一处理器120，电连接至所述测试机110，用于接收所述测试机110的控制指令，根据所述控制指令配置待测芯片并将配置结果发送至所述测试机110；第二处理器130，电连接至所述第一处理器120，用于根据所述第一处理器120发送的测试激励文件测试所述待测芯片。本发明提供的测试系统，通过测试机、第一处理器以及第二处理器配合完成不同的测试向量，在低端测试平台上就可以完成复杂芯片的量产测试，节约了芯片量产测试成本，极大缩短了测试程序开发时间，在线调试比较方便。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 量产 测试 系统 | ||
【主权项】：
一种芯片量产测试系统，其特征在于，包括：测试机(110)；第一处理器(120)，电连接至所述测试机(110)，用于接收所述测试机(110)的控制指令，根据所述控制指令配置待测芯片并将配置结果发送至所述测试机(110)；第二处理器(130)，电连接至所述第一处理器(120)，用于根据所述第一处理器(120)发送的测试激励文件测试所述待测芯片；其中，所述测试机(110)用于完成所述待测芯片的第一种测试向量的测试，所述测试机(110)与所述第一处理器(120)配合完成所述待测芯片的第二种测试向量的测试，所述第一处理器(120)与所述第二处理器(130)配合完成所述待测芯片的第三种测试向量的测试。
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