[发明专利]一种温度检测电路及一种温度检测方法在审
| 申请号： | 201711266449.2 | 申请日： | 2017-12-05 |
| 公开（公告）号： | CN107976261A | 公开（公告）日： | 2018-05-01 |
| 发明（设计）人： | 欧阳托日;任军 | 申请（专利权）人： | 合肥恒烁半导体有限公司 |
| 主分类号： | G01K7/16 | 分类号： | G01K7/16 |
| 代理公司： | 上海硕力知识产权代理事务所(普通合伙)31251 | 代理人： | 郭桂峰 |
| 地址： | 230041 安徽省合肥*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种温度检测电路及一种温度检测方法，包括一种温度检测电路，包括电压生成电路，ADC正负基准电压电路，ADC电路以及译码器；所述电压生成电路，用于生成预设带隙基准电压以及待检测电压；所述ADC正负基准电路，用于将带隙基准电压转换为ADC的正基准和负基准电压；所述ADC电路，用于将所述电压生成电路中生成的待检测电压，进行模数转换处理后生成数字信号；所述译码器，用于将所述ADC电路生成的所述数字信号进行译码，显示当前待测芯片的温度信息。其目的通过在带隙基准电路上增加一条支路，获得温度的模拟信号，实现温度信息的检测，从而减小芯片结构的面积。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 温度 检测 电路 方法 | ||
【主权项】：
一种温度检测电路，其特征在于，包括：电压生成电路，ADC正负基准电压电路，ADC电路以及译码器；所述电压生成电路，用于生成预设带隙基准电压以及待检测电压；所述ADC正负基准电路，用于将带隙基准电压转换为ADC的正基准和负基准电压；所述ADC电路，用于将所述电压生成电路中生成的待检测电压，进行模数转换处理后生成数字信号；所述译码器，用于将所述ADC电路生成的所述数字信号进行译码，显示当前待测芯片的温度信息。
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