[发明专利]纺织物缺陷检测方法及纺织物缺陷检测装置在审

专利信息
申请号: 201711217285.4 申请日: 2017-11-28
公开(公告)号: CN108133472A 公开(公告)日: 2018-06-08
发明(设计)人: 李洪春 申请(专利权)人: 长乐万达纺织机械有限公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00
代理公司: 北京联瑞联丰知识产权代理事务所(普通合伙) 11411 代理人: 张清彦
地址: 350200 福建*** 国省代码: 福建;35
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摘要: 发明公开了一种纺织物缺陷检测方法,利用CMOS摄像机采集纺织品的各种类型的缺陷部、和非缺陷部分及采集待测样品的图像信息,分别得到缺陷样本和无缺陷样本,并进行存储;利用非局部均值滤波对纹理图像进行纹理增强;计算获得纺织品图像的纹理轮廓图像;构造纹理轮廓图像的特征模型;将特征模型与无缺陷样本进行匹配比对,偏移量与平均偏移量的差值大于预设阈值时,确定该特征模型为瑕疵模型;偏移量与平均偏移量的差值小于预设阈值时,确定该特征模型为合格模型;将瑕疵模型与缺陷样本进行一对一匹配对比,并对瑕疵样本进行分类存储。本技术方案实现了数字化缺陷检测,同时还进行了缺陷的分类存储,便于质量检测人员的数据分析。
搜索关键词: 缺陷样本 特征模型 偏移量 缺陷检测 纺织物 瑕疵 分类存储 轮廓图像 纹理 阈值时 预设 采集 缺陷检测装置 纺织品图像 一对一匹配 待测样品 构造纹理 均值滤波 匹配比对 数据分析 图像信息 纹理图像 质量检测 非局部 缺陷部 纺织品 样本 数字化 存储
【主权项】:
一种纺织物缺陷检测方法,其特征在于:包括步骤:利用CMOS摄像机采集纺织品的各种类型的缺陷部分和非缺陷部分,分别得到缺陷样本和无缺陷样本,并进行存储;利用CMOS摄像机采集待测样品的图像信息,并进行图像预处理;利用非局部均值滤波对纹理图像进行纹理增强;对纹理增强后的纺织品图像进行处理,计算获得纺织品图像的纹理轮廓图像;构造纹理轮廓图像的特征模型;将所述特征模型与所述无缺陷样本进行匹配比对,偏移量与平均偏移量的差值大于预设阈值时,确定该特征模型为瑕疵模型;偏移量与平均偏移量的差值小于预设阈值时,确定该特征模型为合格模型;将所述瑕疵模型与缺陷样本进行一对一匹配对比,并对瑕疵样本进行分类存储。
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