[发明专利]一种芯片测试的方法在审
| 申请号： | 201711216394.4 | 申请日： | 2017-11-28 |
| 公开（公告）号： | CN108333497A | 公开（公告）日： | 2018-07-27 |
| 发明（设计）人： | 李强;席与凌;高金德;王继华 | 申请（专利权）人： | 上海华力微电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海申新律师事务所 31272 | 代理人： | 俞涤炯 |
| 地址： | 201203 上海市浦*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种芯片测试的方法，应用于芯片测试系统中，通过芯片测试系统对芯片执行测试以及将芯片的测试结果进行保存，测试芯片系统中包括多个测试项，其中，于测试系统中创建一测试线程，以及一存储线程；预先在测试系统的一个处理周期内，定义测试线程执行测试的测试时间以及存储线程执行存储的存储时间，其中处理周期等于测试时间和存储时间之和；包括以下步骤：步骤S1、测试线程被启动后，在测试时间内调用测试项对芯片执行测试，以获得测试结果；步骤S2、测试线程于测试结束后，调用存储线程，存储线程在存储时间内对测试结果进行保存。其技术方案的有益效果在于，有效减少数据存储消耗的时间，提高了测试效率的芯片测试。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 测试线程 存储线程 芯片测试 存储 芯片测试系统 测试系统 处理周期 芯片 测试项 调用 测试效率 测试芯片 数据存储 有效减少 保存 消耗 创建 应用 | ||
【主权项】：
1.一种芯片测试的方法，应用于芯片测试系统中，通过所述芯片测试系统对芯片执行测试以及将所述芯片的测试结果进行保存，所述测试芯片系统中包括多个测试项，其特征在于，于所述测试系统中创建一测试线程，以及一存储线程；预先在所述测试系统的一个处理周期内，定义所述测试线程执行测试的测试时间以及所述存储线程执行存储的存储时间，其中所述处理周期等于所述测试时间和所述存储时间之和；包括以下步骤：步骤S1、所述测试线程被启动后，在所述测试时间内调用所述测试项对所述芯片执行测试，以获得测试结果；步骤S2、所述测试线程于测试结束后，调用所述存储线程，所述存储线程在所述存储时间内对所述测试结果进行保存。
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