[发明专利]半导体分立器件测试系统脉冲电流校准装置及校准方法有效
| 申请号： | 201711209535.X | 申请日： | 2017-11-27 |
| 公开（公告）号： | CN107991640B | 公开（公告）日： | 2021-07-06 |
| 发明（设计）人： | 瞿明生 | 申请（专利权）人： | 贵州航天计量测试技术研究所 |
| 主分类号： | G01R35/00 | 分类号： | G01R35/00 |
| 代理公司： | 贵阳中新专利商标事务所 52100 | 代理人： | 商小川 |
| 地址： | 550009 *** | 国省代码： | 贵州;52 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种半导体分立器件测试系统脉冲电流校准装置，它包括分流器的电压端G和H分别与数字多用表的电压测量输入端HI和LO连接；分流器的电压端G和H分别与半导体分立器件测试系统的采样端B和C连接；分流器的电流端E和F分别与半导体分立器件测试系统的脉冲电流输出端A和D连接；解决了现有技术对半导体分立器件测试系统脉冲电流校准存在的测量不科学和不合理；脉冲电压测量精度不高，不能满足校准要求等技术问题。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 分立 器件 测试 系统 脉冲 电流 校准 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种半导体分立器件测试系统脉冲电流校准装置，其特征在于：分流器的电压端G和H分别与数字多用表的电压测量输入端HI和LO连接；分流器的电压端G和H分别与半导体分立器件测试系统的采样端B和C连接；分流器的电流端E和F分别与半导体分立器件测试系统的脉冲电流输出端A和D连接。
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