[发明专利]温度传感器时间常数的测试方法、装置、设备和存储介质有效
申请号: | 201711204690.2 | 申请日: | 2017-11-27 |
公开(公告)号: | CN107991003B | 公开(公告)日: | 2019-11-12 |
发明(设计)人: | 鲁娜娜;陈宇;战京景;王兴华 | 申请(专利权)人: | 天津航空机电有限公司 |
主分类号: | G01K15/00 | 分类号: | G01K15/00 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 孟金喆 |
地址: | 300308 天*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | 本发明公开了温度传感器时间常数的测试方法、装置、设备和存储介质,温度传感器时间常数的测试方法包括:获取待测温度传感器的水检时间常数;基于预设拟合模型,根据所述水检时间常数得到所述待测温度传感器的风检时间常数;当所述风检时间常数与预设待测温度传感器风检时间常数的标准相匹配时,确定所述待测温度传感器合格。本发明解决了温度传感器的风检时间常数测试成本高昂、测试环境因素干扰多、测试装置复杂以及测试周期长等问题,实现了以较低成本且较快速地获得温度传感器的合格情况。 | ||
搜索关键词: | 温度传感器 时间常数 测试 方法 装置 设备 存储 介质 | ||
【主权项】:
1.一种温度传感器时间常数的测试方法,其特征在于,包括:获取待测温度传感器的水检时间常数;其中,水检时间常数是将温度传感器置于一定水流速度中所测得的时间常数;获取至少十台温度传感器的风检时间常数和水检时间常数;其中,所述温度传感器和所述待测温度传感器的型号相同;根据所述至少十台温度传感器的风检时间常数和水检时间常数,基于第一预设拟合算法,生成与所述温度传感器对应的拟合模型;基于所述拟合模型,根据所述水检时间常数得到所述待测温度传感器的风检时间常数;其中,风检时间常数是将温度传感器置于一定风速中所测得的时间常数;当所述风检时间常数与预设待测温度传感器风检时间常数的标准相匹配时,确定所述待测温度传感器合格。
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