[发明专利]具有检查所选择的存储器访问的硬件检查单元的集成电路有效
| 申请号： | 201711181664.2 | 申请日： | 2017-11-23 |
| 公开（公告）号： | CN108108262B | 公开（公告）日： | 2023-10-24 |
| 发明（设计）人： | J.格拉迪高;S.博尔克;S.胡夫纳格尔 | 申请（专利权）人： | 罗伯特·博世有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/10 | 分类号： | G06F11/10 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 胡莉莉;杜荔南 |
| 地址： | 德国斯*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及具有检查所选择的存储器访问的硬件检查单元的集成电路。本发明涉及一种集成电路（101、101'），其具有处理器单元（110）、硬件检查单元（120）和数据源（140、130），其中所述处理器单元在大量存储器访问其间分别访问来自所述数据源（140、130）的数据，其中所述硬件检查单元（120）被设立为检查所述大量存储器访问中的所选择的存储器访问的数据。 | ||
| 搜索关键词： | 具有 检查 选择 存储器 访问 硬件 单元 集成电路 | ||
【主权项】：
1.一种集成电路（101、101'），其具有处理器单元（110）、硬件检查单元（120）和数据源（140、130），其中，所述处理器单元在大量存储器访问其间分别访问来自所述数据源（140、130）的数据，其中所述硬件检查单元（120）被设立为检查所述大量存储器访问中的所选择的存储器访问的数据。
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