[发明专利]一种表面贴装集成电路真空共晶焊接芯片定位的方法在审
申请号: | 201711170461.3 | 申请日: | 2017-11-22 |
公开(公告)号: | CN108109948A | 公开(公告)日: | 2018-06-01 |
发明(设计)人: | 王钊;胡锐;王德成;刘健;尹国平;刘俊;米蛟;谢炜炜;谌帅业;田东;罗国敏 | 申请(专利权)人: | 贵州振华风光半导体有限公司 |
主分类号: | H01L21/68 | 分类号: | H01L21/68;H01L21/683 |
代理公司: | 贵阳中工知识产权代理事务所 52106 | 代理人: | 刘安宁 |
地址: | 550018 贵*** | 国省代码: | 贵州;52 |
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摘要: | 一种适用于金属表面贴装集成电路真空共晶焊芯片定位方法,该方法是根据产品外壳和芯片尺寸以及产品工艺,设计和制造专用定位夹具及压块;再根据表面贴装器件外壳内腔和芯片尺寸设计定位框,将焊片和芯片放入定位框中确保焊片和芯片位置固定和重合;接着将压块平稳放置在芯片表面,通过压块给芯片施压来确保芯片能够平稳放置于焊片上,确保焊片和芯片充分接触,同时通过压块施压避免在共晶焊过程中焊片融化时产生的表面张力导致芯片偏移,从而提高器件共晶焊的质量。本发明方法通过低成本夹具和压块的使用实现芯片位置一致,同时确保芯片真空共晶焊过程中芯片与焊片充分接触,不发生偏移。适用于不同金属外壳类封装产品真空共晶焊的组装过程。 | ||
搜索关键词: | 焊片 芯片 共晶焊 压块 夹具 充分接触 芯片定位 芯片位置 定位框 施压 集成电路 表面贴装器件 设计和制造 表面贴装 产品工艺 产品外壳 产品真空 尺寸设计 共晶焊接 金属表面 金属外壳 外壳内腔 芯片表面 芯片偏移 专用定位 组装过程 低成本 类封装 中芯片 偏移 重合 放入 贴装 融化 | ||
【主权项】:
1.一种适用于金属表面贴装集成电路真空共晶焊芯片定位方法,其特征在于该方法是根据产品外壳和芯片尺寸以及产品的工艺,设计和制造一种专用定位夹具及压块;再根据表面贴装器件外壳内腔和芯片尺寸设计定位框,将焊片和芯片依次放入定位框中确保焊片和芯片位置固定和保证焊片与芯片的重合;接着将压块平稳放置在芯片表面,通过压块给芯片表面施压来确保芯片能够平稳放置于焊片上,并确保焊片和芯片的充分接触,同时通过压块施加的压力避免在共晶焊过程中焊片融化时产生的表面张力导致芯片偏移,从而提高器件共晶焊的质量。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造