[发明专利]超细孔结构的制成工艺有效
申请号: | 201711140505.8 | 申请日: | 2017-11-16 |
公开(公告)号: | CN107994023B | 公开(公告)日: | 2021-01-26 |
发明(设计)人: | 王喆;王鹏程;高晶 | 申请(专利权)人: | 长江存储科技有限责任公司 |
主分类号: | H01L27/11524 | 分类号: | H01L27/11524;H01L27/11526;H01L21/768 |
代理公司: | 北京辰权知识产权代理有限公司 11619 | 代理人: | 佟林松 |
地址: | 430074 湖北省武汉市洪山区东*** | 国省代码: | 湖北;42 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及超细孔结构的制成工艺,包括以下步骤:提供芯片结构;进行刻蚀,在芯片结构的顶层沉积膜内形成接触孔,使次顶层沉积膜内的钨插塞的上表面暴露在接触孔内;向接触孔内沉积二氧化硅,在接触孔的侧壁和钨插塞的上表面形成二氧化硅沉积层,进而形成超细孔;对二氧化硅沉积层进行高温退火;进行湿法清洗,除去超细孔内位于钨插塞的上表面的部分二氧化硅沉积层;向超细孔内沉积粘合材料,形成粘合层;向超细孔内沉积钨,使钨充满超细孔的剩余孔隙,形成超细孔结构。本发明通过在超细孔结构的形成工艺中加入二氧化硅侧墙的高温退火步骤,降低了后续湿法清洗和粘合材料沉积步骤对侧墙厚度的影响,保证了超细孔结构的尺寸。 | ||
搜索关键词: | 细孔 结构 制成 工艺 | ||
【主权项】:
超细孔结构的制成工艺,其特征在于,包括以下步骤:提供芯片结构,芯片结构包括衬底和依次沉积在衬底表面的多层沉积膜,其中次顶层沉积膜内设有贯穿其中的钨插塞;进行刻蚀,在顶层沉积膜内形成接触孔,接触孔由顶层沉积膜的上表面向下延伸直至次顶层沉积膜的上表面,并且使钨插塞的上表面暴露在接触孔内;向接触孔内沉积二氧化硅,在接触孔的侧壁和钨插塞的上表面形成二氧化硅沉积层,进而形成超细孔;对二氧化硅沉积层进行高温退火;进行湿法清洗,除去超细孔内位于钨插塞的上表面的部分二氧化硅沉积层,使钨插塞的上表面暴露在超细孔内;向超细孔内沉积粘合材料,在超细孔的内壁的剩余二氧化硅沉积层的表面和钨插塞的上表面形成粘合层;向超细孔内沉积钨,使钨充满超细孔的剩余孔隙,形成超细孔结构。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于长江存储科技有限责任公司,未经长江存储科技有限责任公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201711140505.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的