[发明专利]一种具有稀疏特性的芯片单性能成品率预测方法在审
| 申请号： | 201711129686.4 | 申请日： | 2017-11-15 |
| 公开（公告）号： | CN108021738A | 公开（公告）日： | 2018-05-11 |
| 发明（设计）人： | 李鑫;张登银;丁飞;殷俊 | 申请（专利权）人： | 南京邮电大学 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 南京知识律师事务所 32207 | 代理人： | 李吉宽 |
| 地址： | 210003 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种具有稀疏性的芯片单性能成品率预测方法。基于工艺参数扰动，设计具有随机性的芯片性能归一化模型；其次，根据扰动基函数关键度的高低，利用正则化稀疏算法自适应选取关键扰动基函数对性能模型进行稀疏表示；最后，利用贝叶斯理论和马尔科夫链方法对芯片单性能成品率进行准确预测。本发明考虑了工艺参数扰动的随机性影响，在对芯片成品率进行精确预测同时，可以通过最大限度地剔除影响不显著的扰动基，降低预测方法的复杂度，提高方法的高效性，也很好地解决了设计参数随机性所造成的芯片性能模型的高维性、高仿真成本形象的芯片单性能成品率预测问题，对手设计参数随机新更影响的芯片单性能成品率进行具有稀疏性的准确预测。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 具有 稀疏 特性 芯片 性能 成品率 预测 方法 | ||
【主权项】：
1.一种具有稀疏性的芯片单性能成品率预测方法，其特征在于，包括以下步骤：A.利用SPICE进行仿真并提取仿真数据；B.考虑工艺参数扰动构造基于扰动基的芯片性能归一化统计模型；C.根据正则化稀疏方法构造具有稀疏性的芯片性能模型；D.通过马尔科夫链及贝叶斯理论准确预测芯片单性能成品率。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于南京邮电大学，未经南京邮电大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201711129686.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
