[发明专利]无源UHF RFID芯片存储擦写次数的测试方法

摘要

本发明公开了一种无源UHF RFID芯片存储擦写次数的测试方法，包括，使所述RFID标签读写器向一待测试芯片的预定存储区反复发送写入命令以反复写入一第一预定数据，直到所述预定存储区被写满；使所述RFID标签读写器向所述待测试芯片的预定存储区反复发送写入命令以反复写入一第二预定数据，读取所述预定存储区以验证所述第二预定数据是否写入成功，再次反复写入所述第一预定数据，并验证所述第一预定数据是否写入成功，重复上述步骤一预定次数。本发明获得了以下有益效果：可对无源UHF RFID芯片的预定存储区的存储擦写次数进行有效的测试。

主权项

1.一种无源UHF RFID芯片存储擦写次数的测试方法，其特征在于，提供一RFID标签读写器以及一射频信号分析装置，根据测试项目定义复数个测试用例，还包括以下步骤：步骤1，选取一所述测试用例；步骤2，根据选取的所述测试用例设置所述RFID标签读写器参数；步骤3，根据选取的所述测试用例设置所述射频信号分析装置参数，使所述射频信号分析装置工作于相应的信号分析模式；步骤4，使所述RFID标签读写器向一待测试芯片的预定存储区反复发送写入命令以反复写入一第一预定数据，直到所述预定存储区被写满；步骤5，使所述射频信号分析装置采集所述RFID标签读写器与所述待测试芯片通信过程中的射频信号；步骤6，使所述RFID标签读写器向所述待测试芯片的预定存储区反复发送写入命令以反复写入一第二预定数据，直到所述预定存储区被写满，随后使所述RFID标签读写器向所述待测试芯片发送读取命令，读取所述预定存储区以验证所述第二预定数据是否写入成功，如不成功则测试失败，并退出；步骤7，使所述RFID标签读写器向所述待测试芯片的预定存储区反复发送写入命令以反复写入所述第一预定数据，直到所述预定存储区被写满，随后使所述RFID标签读写器向所述待测试芯片发送读取命令，读取所述预定存储区以验证所述第一预定数据是否写入成功，如不成功则测试失败，并退出；步骤8，重复所述步骤4至步骤7一预定次数；步骤9，选取下一测试用例，并重复所述步骤2至所述步骤8，直至所有所述测试用例测试完毕。